2025年大学《化学测量学与技术》专业题库—— 电子显微镜技术在纳米材料表征中的应用.docxVIP

2025年大学《化学测量学与技术》专业题库——电子显微镜技术在纳米材料表征中的应用

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每小题2分，共20分。请将正确选项的字母填在括号内）

1.透射电子显微镜（TEM）能够获得高分辨率图像的主要原因是（）。

A.使用了可见光作为光源

B.电子具有波动性，且其德布罗意波长比可见光短得多

C.样品只需要进行导电处理

D.采用了特殊的物镜镜头

2.在电子显微镜中，限制其分辨率提高的根本因素是（）。

A.电子束的亮度

B.样品的制备难度

C.阿贝衍射极限（Abbediffractionlimit）

D.计算机处理速度

3.扫描电子显微镜（SEM）获取图像的主要物理信号是（）。

A.被样品吸收的电子

B.从样品表面反射的二次电子或背散射电子

C.穿过样品的透射电子

D.样品自身发出的X射线

4.下列哪种电子显微镜技术最适合用于观察样品表面的精细形貌？（）

A.透射电子衍射（SAED）

B.能量色散X射线谱（EDS）

C.高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）

D.扫描电子显微镜（SEM）

5.在扫描透射电子显微镜（STEM）中，高角环形暗场成像（HAADF-STEM）信号主要来源于（）。

A.发生弹性散射并散射角较大的背散射电子

B.发生非弹性散射的二次电子

C.穿过样品的透射电子

D.样品表面发射的二次电子

6.选区电子衍射（SAED）主要用于测定（）。

A.样品的表面化学成分

B.样品中特定区域的精细结构或晶体缺陷

C.样品的整体宏观形貌

D.样品的平均厚度

7.电子能量损失谱（EELS）能够提供关于样品中（）信息的主要依据是？（）

A.衍射斑点的位置和强度

B.背散射电子的能量分布

C.入射电子与样品原子相互作用后损失的能量

D.样品表面的二次电子发射

8.对于需要观察纳米线内部晶体结构和成分的实验，通常优先考虑使用（）。

A.扫描电子显微镜（SEM）结合EDS

B.透射电子显微镜（TEM）结合SAED和EELS

C.原子力显微镜（AFM）

D.X射线光电子能谱（XPS）

9.制备TEM样品时，对生物大分子等非导电样品通常采用（）技术。

A.离子溅射喷镀

B.透射电镜碳膜支持

C.冷冻断裂复型

D.蒸发沉积

10.下列哪项技术能够同时提供样品的元素分布和化学态信息？（）

A.能量色散X射线谱（EDS）

B.俄歇电子能谱（AES）

C.X射线光电子能谱（XPS）

D.电子能量损失谱（EELS）

二、填空题（每空2分，共20分。请将答案填在横线上）

1.电子显微镜利用高速运动的______作为光源，其波动性使得它能够达到比光学显微镜更高的分辨率。

2.透射电子显微镜（TEM）成像利用透过薄样品的电子束与样品相互作用产生的______或______来形成图像。

3.扫描电子显微镜（SEM）成像中，二次电子像（SE）主要反映了样品表面的______信息，而背散射电子像（BSE）则与样品的______有关。

4.选区电子衍射（SAED）是通过选择TEM视场中的一部分电子束，使其与样品的晶体发生衍射，从而获得样品______的信息。

5.电子能量损失谱（EELS）利用入射电子与样品原子相互作用时损失的能量信息，可以用来识别样品中的______元素，并分析元素的______状态。

6.在纳米材料表征中，高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）主要用于观察和分析材料的______结构和______。

7.为了避免样品在TEM观察过程中因电子轰击而______或______，通常需要对导电样品进行喷镀金属薄膜等处理。

8.与传统的光学显微镜相比，电子显微镜的主要优势在于其分辨率更高，可以达到______纳米量级，能够观察原子尺度的结构。

9.能量色散X射线谱（EDS）是一种基于______原理的能谱分析技术，常用于SEM中测定样品的______信息。

10.将透射电子显微镜（TEM）与扫描技术结合形成的______能够提供样品局域区域的形貌、结