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在线AOI的集中判定综合处理系统的

研发与应用

谢志伟，石振振，邹旭军，张迪，董典桥，刘长有

（中兴通讯股份有限公司制造工程研究院，广东深圳518000）

摘要：本文设计了一种AOI集中判定、远程控制、综合处理系统，由硬件和软件构成，可兼容各种AOI型号和场景。通

过将MQTT通信与SMEMA控制的结合、并发处理技术的开发，可以在不影响AOI节拍的前提下，由一人处理几十台

AOI的判定工作；并在AOI设备自带算法的基础上叠加自研算法（AI二次辅助判定算法、AOI缺陷管控算法），从而摆

脱对AOI供应商算法迭代的依赖；通过将智能制造技术应用于AOI检测数据的数字化改造和应用，实现了工序管控移交

和数据绑定的自动化，替代了人工扫描操作。在提升生产质量的同时，节省了大量的人力。

关键词：在线AOI；集中判定；AI图像识别；SMEMA控制；AOI算法；SMT数字化；智能制造

中图分类号：TP274文献标识码：A

1引言1）人力成本高，AOI设备位于SMT（Surface

MountTechnology，表面贴装技术）生产线的末端，与上

在线AOI（AutomatedOpticalInspection，自动光学

下游SMT设备通过SMEMA（SurfaceMountEqutpment

检测）在电子制造业中被广泛应用，用于检测电路板上

的各种缺陷，包括焊点不良、元器件缺失、错件和错位ManufacturersAssociation，表面组装设备制造商协会）

[2]

[1]协议连接，而SMEMA是通过24V电平来进行控制的，

等故障。但随着电子元器件焊接密度增加、PCB（Printed

CircuitBoard，印刷电路板）板尺寸越来越大，尽管当无法将多台AOI设备集中到一处。虽然AOI检测后的

前AOI设备的检测技术已经相当成熟，虽然NG（NotNG误报率微小，仍然每台AOI需要配置一名人员。

Good，故障）误报率比较微小，但检测的每块单板上通2）算法迭代更新慢，AOI设备的检测算法由供

常多达3000~5000个元器件，导致按整板计算会有较多应商提供，自采购后基本上很少迭代更新，除非购买

数量的NG告警，需要人工进行二次判断。如毫米波基站，新的算法软件。业内的常用做法是引入AI（Artificial

单块单板有上万器件的情况，这种问题更加严重。目前Intelligence，人工智能）图像识别算法（以下简称“AI

AOI设备制造技术的智能化水平还不高，与智能制造技算法”）技术进行二次复判，但由于AOI设备未提供第

术相结合力度还远远不足，主要体现在以下几个方面。[3-4]

三方接口，只能新增一个筛选工序。新增工序不仅需

68·2025年第1期

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要硬件投入，也有增加工序带来更多的人力投入。MySQL数据库均属于系统的基础设施，其中AOI检测设

3）无