2025《加速寿命试验国内外研究现状国内外文献综述》2900字.docxVIP

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加速寿命试验国内外研究现状国内外文献综述

可靠性试验一直是制造业产品设计和开发过程中不可或缺的一部分，随着对产品设计创新能力要求的提高，缩短产品开发时间成为了产品设计开发创新的重要一环，缩短可靠性试验时间将是缩短产品设计开发时间的关键一步。而加速寿命试验(ALT)恰好是一种在短时间内获得产品故障信息的有效方法，通过将试验件置于比设计应力更为严酷的应力条件下（如温度、电场和机械振动）进行考验并获得相关试验数据，最终利用加速寿命试验数据来估计产品在正常工况下的可靠性。可靠性加速寿命试验根据应力的加载方式可以分为：恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验和序进加速寿命试验三种方式。本文主要考虑恒定和步进两种类型下的试验，因此下述章节将对这两种试验方式的研究进展分别进行叙述。

1.1恒定应力加速寿命试验国内外研究现状

恒定应力加速寿命试验是一种基本的可靠性试验方法。从上个世纪起，国内外学者根据不同的截尾方式和应用情况，针对于恒定应力加速寿命试验试验以及可靠性分析与评估展开深入研究。

传统的测试计划通常考虑同等间距的压力水平，对不同的压力水平进行同等的单元分配。然而，遵循这种设计策略的ALT可能并不高效REF_Re\r\h[1]REF_Re\r\h[2]。作为最早的ALT规划工作，Chernoff开发了一个考虑到完整数据和I型删减数据的最佳ALT计划REF_Re\r\h[3]。假设产品的寿命遵循指数分布，故障率代表二次函数或应力的指数函数。Mann提出了一种最小平方曲线拟合方法，以确定产品寿命遵循Weibull分布时的应力水平和每个应力水平的样本分配REF_Re\r\h[4]。其它最佳ALT计划是通过假设其它寿命分布来研究的REF_Re\r\h[5]REF_Re\r\h[6]REF_Re\r\h[7]。这些最佳ALT计划考虑了单一的恒定应力载荷与线性或对数线性寿命应力的关系。

然而，大多数关于加速寿命试验的研究都集中在单应力应用上。根据应力水平、试验单元分配到应力水平、截尾时间(第一类截尾)或观察到的失效个数(第二类截尾)等方面的最优试验方案通常被定义为非线性优化问题。Escobar、MeekerREF_Re\r\h[8]和NelsonREF_Re\r\h[9]REF_Re\r\h[10]REF_Re\r\h[11]对这一研究方向进行了广泛讨论。然而，对于设计为可连续多年无故障运行的产品，仅使用单一应力很难在短时间内获得足够的故障时间数据。因此，实践中常用多应力加速寿命试验来克服这一困难REF_Re\r\h[12]。例如：陶瓷电容器在高于设计温度和电压的条件下同时进行试验REF_Re\r\h[13]，半导体电子元件和户外光学产品在高于工作湿度和温度的条件下进行试验REF_Re\r\h[14]REF_Re\r\h[15]，印刷电路板也在高于工作电压、湿度和温度的条件下进行试验REF_Re\r\h[16]REF_Re\r\h[17]。

在许多情况下，产品的寿命取决于同时工作的几个应力。对于户外产品来说，多应力代表了一个实际的现场情况。例如：环境会导致锆钛酸铅(PTZ)执行器的介电强度迅速恶化REF_Re\r\h[18]REF_Re\r\h[19]，特别是使用高电场强度来实现高机械输出时，会使恶化速度增加。然而，PTZ执行器广泛应用于需要在多种应力下可靠工作多年的设备中，通常是在难以到达的位置REF_Re\r\h[20]。Lipscomb等人评估了加速应力（例如温度、湿度和电场）对PZT执行器可靠性的可能影响REF_Re\r\h[20]。他们将干燥的样品放在一个环境箱中，固定其中的两个应力，同时在一定范围内改变第三个应力值，从而寻找一个系统和有效的方法。此外YadaZhu和ElsayedA.Elsayed也提出了一种多应力试验方案的设计方法，并根据不同的目标和实际约束条件制定了多应力试验方案REF_Re\r\h