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关于《半导体器件机械和气候试验方法第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输》标准修订的发展报告

标题

《半导体器件机械和气候试验方法第20-1部分》国家标准修订:驱动产业质量提升与国际接轨的关键举措

摘要

本报告旨在阐述国家标准GB/T4937.201《半导体器件机械和气候试验方法第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输》的修订背景、核心目的、技术内容更新及其对产业发展的深远意义。本次修订采用等同采用策略,紧跟国际电工委员会(IEC)标准IEC60749-20-1:2019的最新发展,旨在通过规范潮湿敏感表面安装器件(SMD)的全流程管控,有效防止因吸湿和焊接热冲击导致的器件损伤与可靠性下降,从而提升我国半导体器件的整体质量水平、生产成品率及国际竞争力。

要点列表

1.标准性质:本次为修订项目,旨在将现行国家标准GB/T4937.201-2018更新至与IEC60749-20-1:2019完全一致。

2.核心目标:为潮湿/再流焊敏感的SMD提供从生产、包装、运输到使用(特别是再流焊)的全链条标准化操作方法,确保焊接过程安全无损。

3.技术更新:新增关于水清洗工艺影响的考量、干燥包装注意事项,并补充了湿度指示卡测试方法和烘焙表推导两个重要附录。

4.适用范围:适用于所有在PCB组装中需经历批量再流焊的器件,特别是塑料封装等由透湿材料制成的潮湿敏感器件。

5.产业意义:完善了半导体器件试验方法标准体系,是评价器件质量的基础性标准,对推动我国半导体产业质量与国际水平接轨至关重要。

目的意义

本次标准修订的目的与意义深远,具体体现在以下几个方面:

首先,保持国际标准同步,消除技术贸易壁垒。原国家标准等同采用的IEC标准已于2019年更新。及时修订本国标准,确保其与技术发展最前沿的国际标准完全一致,是我国半导体产品顺利进入全球市场、参与国际竞争的前提。这有助于我国企业按照国际统一的规则进行产品设计、生产和检验,减少因标准差异导致的认证障碍和市场准入成本。

其次,规范关键工艺环节,保障器件可靠性与成品率。表面安装器件(SMD)在再流焊过程中,其内部吸收的潮气会因急剧受热而汽化膨胀,导致封装开裂、分层或内部腐蚀,俗称“爆米花”效应,这是影响SMD组装良率和长期可靠性的主要风险之一。本标准的核心目的,就是为这类潮湿敏感器件提供一套从出厂包装、仓储运输到车间使用(包括干燥存储、烘烤、暴露时间控制等)的标准化操作程序。通过严格执行这些程序,可以从源头避免损伤,实现“安全无损的再流焊”,从而显著提升电子产品的制造良率和长期可靠性。

再次,完善标准体系,夯实产业质量基础。该标准是GB/T4937《半导体器件机械和气候试验方法》系列标准的重要组成部分。该系列标准共同构成了一套评价半导体器件环境适应性与可靠性的完整方法论。本部分的修订,使得这套基础试验方法标准体系更加完善和先进,为统一和规范全国半导体器件的质量检验与考核提供了权威、科学的技术依据,是支撑我国半导体产业高质量发展的基石性工作。

最后,提升产业链协同效率。标准明确了器件生产商(需提供正确的湿敏等级标识和干燥包装)、运输仓储方以及终端用户(需遵循规定的操作流程)各方的责任与要求,建立了产业链上下游协同的质量控制语言,有利于减少因操作不当导致的纠纷,提升整体供应链的效率和稳定性。

关于标准化技术委员会的介绍

标准化技术委员会是在特定专业领域内,从事国家标准起草、技术审查、咨询和推广等工作的权威技术组织。在我国,由国家标准化管理委员会统一规划和管理。具体到本报告涉及的标准,其归口单位通常是“全国半导体器件标准化技术委员会”(SAC/TC78)或其下属的分技术委员会(如半导体器件机械标准化分技术委员会等)。

该技术委员会的主要职责包括:

1.标准体系规划:分析本专业领域的标准化需求,规划和构建半导体器件领域的国家标准体系。

2.标准制修订:组织委员单位(包括科研院所、领先企业、检测机构等)起草、讨论、评审和报批国家标准,如本次GB/T4937.201的修订工作。

3.国际标准对接:跟踪对应的国际标准化组织(如IEC/TC47/SC47A)的动态,研究、评估和转化国际标准,确保我国标准与国际发展同步。

4.技术咨询与宣贯:为社会和企业提供标准化技术咨询,组织标准宣贯培训,推动标准的实施与应用。

5.技术复审:定期对已发布的标准进行复审,提出修订、废止或继续有效的建议。

正是通过像全国半导体器件标准化技术委员会这样的专业机构持续工作,才能确保我国半导体领域的技术标准科学、先进、适用,并有效支撑产业的技术进步与质量提升。

结论

综上所述,对GB

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