电感耦合等离子体发射光谱法测定镁锭中硅含量.pdfVIP

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电感耦合等离子体发射光谱法测定镁锭中

硅含量

＊施怡帆

（上海中储材料检验有限公司上海201900）

摘要：用电感耦合等离子体发射光谱法（Electron-coupledPlasmaAtomicEmissionSpectrometry，ICP-AES）快速测定镁锭中硅含

量的分析方法。通过优化样品前处理、仪器工作参数及分析谱线选择，实现了硅元素的高灵敏度检测。实验表明，方法在250.690nm处

有良好的线性关系（R2＞0.999），检出限为0.0006%，测定下限为0.002%，相对标准偏差（Relativestandarddeviation，RSD）小于

4%（n=7），加标回收率为95.3%～102.0%。该方法操作简便、准确度高，适用于镁锭中微量硅的快速检测，为镁合金生产工艺的质量控

制提供了可靠的技术支持。

关键词：电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）；镁锭；硅含量；定量分析；基体干扰；分析谱线

中图分类号：O657.31文献标识码：A

DOI10.20087/j.cnki.1672-8114.2025.09.020

：

DeterminationofSiliconContentinMagnesiumIngotsbyInductivelyCoupledPlasma

EmissionSpectroscopy

ShiYifan

(ShanghaiZhongchuMaterialsInspectionCo.,Ltd.,Shanghai,201900)

AbstractAmethodforrapiddeterminationofsiliconcontentinmagnesiumingotswasdevelopedusinginductivelycoupledplasmaatomic

：

emissionspectroscopy(ICP-AES).Byoptimizingsamplepretreatment,instrumentparameters,andanalyticalspectrallineselection,high-sensitivity

detectionofsiliconwasachieved.Experimentalresultsdemonstratedastronglinearrelationshipat250.690nm(R2＞0.999),withadetectionlimit

of0.021μg/mLandaquantificationlimitof0.069μg/mL.Therelativestandarddeviation(RSD)waslessthan4%(n=7),andspikedrecoveries

rangedfrom95.3%to102.0%.Thismethodissimple,accurate,andsuitableforrapiddetectionoftracesiliconinmagnesiumingots,providing

reliabletechnicalsupportforqualitycontrolinmagnesiumalloyproduction.

Keywords：ind