CN114331944B 人工智能瑕疵图像分类方法及其系统 (财团法人工业技术研究院).docxVIP

CN114331944B 人工智能瑕疵图像分类方法及其系统 (财团法人工业技术研究院).docx

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(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114331944B(45)授权公告日2025.07.01

(21)申请号202011054349.5

(22)申请日2020.09.29

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114331944A

(43)申请公布日2022.04.12

(73)专利权人财团法人工业技术研究院地址中国台湾新竹县

专利权人菱生精密工业股份有限公司

(72)发明人梁明况戴明吉罗安钧邓宇珊沈志明沈敬翔庄亚晋杨泓昱吕景隆

(74)专利代理机构北京市柳沈律师事务所

11105

专利代理师李芳华

(51)Int.CI.

G06T7/00(2017.01)

GO6V10/764(2022.01)B07C5/00(2006.01)

BO7C5/02(2006.01)

(56)对比文件

CN101995223A,2011.03.30

US2019180430A1,2019.06.13CN111079831A,2020.04.28

CN104634787A,2015.05.20

KR20090036937A,2009.04.15CN110021005A,2019.07.16

审查员许瑞雪

权利要求书2页说明书6页附图3页

(54)发明名称

人工智能瑕疵图像分类方法及其系统

(57)摘要

CN114331944B本发明提供一种人工智能瑕疵图像分类方法与其系统。该方法包括:利用传送单元传送微机电麦克风产品至特定位置;利用定位单元定位该微机电麦克风产品;利用第一图像采集单元扫描该微机电麦克风产品以采集待测图像;将该待测图像与多个参考图像进行比对,根据比对结果判断该待测图像的瑕疵分类;根据该比对结果将

CN114331944B

传送微机电麦克风产品至特定位置,并定位微机电麦克风产品

扫描微机电麦克风产品以采集待测图像

将待测图像与多个参考图像进行比对,并根据比对结果判断待测图像的瑕疵分类

根据比对结果将瑕疵区域标示在待测图像上

根据瑕疵分类将微机电麦克风产品分类存放

S202

S204

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S208

S210

CN114331944B权利要求书1/2页

2

1.一种人工智能瑕疵图像分类系统,用于检测微机电麦克风产品,该系统包括:

传送单元,传送该微机电麦克风产品至特定位置;

定位单元,定位该微机电麦克风产品;

第一图像采集单元,扫描该微机电麦克风产品以采集待测图像;

存储单元,存储多个模块及多个参考图像;以及

处理单元,耦接该传送单元、该定位单元、该第一图像采集单元及该存储单元,该处理单元执行所述模块,所述模块包括:

图像识别模块,将该待测图像与所述参考图像进行比对,根据比对结果判断该待测图像的瑕疵分类;

瑕疵标示模块,根据该比对结果将瑕疵区域标示在该待测图像上;以及

产品分类模块,根据该瑕疵分类将该微机电麦克风产品分类存放,

其中在利用该传送单元传送微机电麦克风产品至特定位置之前,该处理单元经配置以:

利用X光检测系统检查该微机电麦克风产品是否包括芯片;以及

若该微机电麦克风产品包括该芯片,包括:

利用加热单元去除该微机电麦克风产品的封盖,以露出该微机电麦克风产品内部的芯片封装结构;

利用第二图像采集单元扫描该芯片封装结构以采集初筛图像;

判断该初筛图像是否具有预设瑕疵;

若该初筛图像不具有该预设瑕疵,利用该第一图像采集单元采集该待测图像,以判断该待测图像的瑕疵分类;以及

若该初筛图像具有该预设瑕疵,直接将该微机电麦克风分类至芯片瑕疵的瑕疵分类。

2.根据权利要求1所述的人工智能瑕疵图像分类系统,其中该第一图像采集单元包括扫描电子显微镜、超声波扫描显微镜及X光检测系统中的至少一个。

3.根据权利要求1所述的人工智能瑕疵图像分类系统,其中该待测图像的解析度小于或等于1纳米。

4.根据权利要求1所述的人工智能瑕疵图像分类系统,其中该待测图像相对于该微机电麦克风产品的图像放大倍率介于10~20万倍之间。

5.根据权利要求1所述的人工智能瑕疵图像分类系统,其中该瑕疵分类包括球型接线遗失品、楔型接线遗失品、芯片破裂品、污染品及合格品中的至少一个。

6.根据权利要求1所述的人工智能瑕疵图像分类系统,其中所述参考图像为第一图像格式,

其中该

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