KerrMapperS/V-300
表征最厚可达300mm的GMR,TMR,MRAM薄膜的磁性
KerrMapperS/V-300技术基于纵向克尔
效应和MicroSense磁测量设备独有的直接
磁场控制技术。这使得测试GMR/TMR磁头,
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