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[19]中华人民共和国国家知识产权局
[12]发明专利申请公开说明书
[21]申请号200410085834.3
[51]Int.Cl?
H01L33/00
H01S5/00
[43]公开日2005年3月30日[11]公开号CN1601775A
[22]申请日2004.10.20
[21]申请号200410085834.3
[71]申请人国联光电科技股份有限公司
地址台湾省新竹市新竹科学园区力行路十号九楼
[72]发明人蔡宗良张智松陈泽澎
[74]专利代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人曾旻辉胡杰
权利要求书1页说明书5页附图7页
[54]发明名称制作一半导体发光元件的方法
[57]摘要
本发明提供一种制作一半导体发光元件的方法。该方法包含于一基板表面形成至少一半导体叠层结构,此半导体叠层结构包含有一第一导电型式半导体层、一发光层以及一第二导电型式半导体层依序设于基板表面;然后于半导体叠层结构表面形成一含铟元素的电极接触层,并且进行一微波处理,以活化半导体叠层结构,最后再于电极接触层表面形成一透明导电层。
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知识产权出版社出版
200410085834.3权利要求书第1/1页
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1、一种制作一半导体发光元件的方法,该方法包含有下列步骤:
(1)提供一基板;
(2)于所述的基板表面形成至少一半导体叠层结构,且该半导体叠层结构包含有一第一导电型式半导体层、一发光层以及一第二导电型式半导体层依序设于该基板表面;
(3)于所述的半导体叠层结构表面形成一含铟元素的电极接触层;
(4)进行一微波处理,以活化所述的半导体叠层结构;以及
(5)于所述的电极接触层表面形成一透明导电层。
2、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的第一导电型式为N型,所述的第二导电型式为P型。
3、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的微波处理是用来活化所述的半导体叠层结构中的P型半导体层。
4、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的电极接触层由P型半导体材料形成,并利用所述的微波处理予以活化。
5、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的透明导电层选自金属、金属氮化物以及金属氮化物所组成的群组。
6、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的微波处理的操作温度小于400°C。
7、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的电极接触层的厚度不大于500埃。
8、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的半导体发光元件包含发光二极管、雷射二极管、光检测器或太阳能电池。
9、根据权利要求1所述制作一半导体发光元件的方法,其特征在于:所述的步骤(4)和(5)的次序可以互换。
200410085834.3说明书第1/5页
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制作一半导体发光元件的方法
技术领域
本发明涉及一种制作一半导体发光元件的方法,尤指一种制作一半导体发光元件的
欧姆电极(ohmicelectrode)的方法。
背景技术
III-V族半导体材料,包含氮化镓系列(GaNseries)、砷化镓(GaAsseries)系列等化合物半导体材料的应用已成为发光组件制作的研究重点。在这些发光组件中,通常包含有一N型导电型式的Ⅲ-V族化合物半导体层以及一P型导电型式的Ⅲ-V族化合物半导体层堆栈于一基板上。此外,在P型半导体层上方另设有一P型接触电极,以与设于N型半导体层上或导电材料基板背面的N型接触电极配合,用来提供电流使组件发光。
一般而言,P型接触电极必须覆盖于P型半导体层的整个表面,以提供均匀电流至P型半导体层,使发光组件可以产生均匀的光线。然而,用来制作接触电极的金属材料透光率并不高,若完全覆盖住发光组件的表层,必定会对发光组件的发光效率产生不良影响。为了同时兼顾发光均匀性以及发光效率,目前的改善方法是在P型半导体层上覆盖一透明导电层,然后将P型接触电极设于透明导电层上,以形成欧姆电极。
由于P型半导体层表面具有许多缺陷,使其与透明导电层间的接触电阻增加,并不易形成良好的欧姆电极。现有技术利用有
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