CN105510101B 一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法及片状试样 （哈尔滨理工大学）.docxVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利

(45)授权

(10)授权公告号CN105510101B公告日2018.02.13

(21)申请号201610060277.2

(22)申请日2016.01.28

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN105510101A

(43)申请公布日2016.04.20

(73)专利权人哈尔滨理工大学

地址150080黑龙江省哈尔滨市南岗区学

府路52号

(72)发明人聂洪岩姚远航顾哲屹

(56)对比文件

CN103296811A,2013.09.11,CN103280908A,2013.09.04,CN1372369A,2002.10.02,

CN1384586A,2002.12.11,EP2309130A2,2011.04.13,

审查员胡慧

(74)专利代理机构哈尔滨市伟晨专利代理事务

所(普通合伙)23209代理人李晓敏

(51)Int.CI.

GO1N1/28(2006.01)

权利要求书2页说明书4页附图2页

(54)发明名称

一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法及片状试样

(57)摘要

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