GB Z 255 2026《类脑计算 神经拟态芯片计算能力测试方法》.docxVIP

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  • 2026-09-21 发布于河北
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GB Z 255 2026《类脑计算 神经拟态芯片计算能力测试方法》.docx

GB/Z255?2026《类脑计算神经拟态芯片计算能力测试方法》

GB/Z:国家标准化指导性技术文件,发布即实施,非强制国标

基础信息

标准编号:GB/Z255?2026

中文名称:类脑计算神经拟态芯片计算能力测试方法

英文名称:Brain?inspiredcomputing—Computingcapabilitytestmethodforneuromorphicchips

发布日期:2026?08?27,发布即实施

ICS:35.020;CCS:L55

计划号Z?469

归口:全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG32)

起草单位:浙江大学、之江实验室、清华大学、北京灵汐科技、中电海康、时识科技、浪潮、中国标准化研究院等产学研单位

标准定位与适用范围

本文件规定神经拟态芯片计算能力的整套测试体系:测试对象、测试环境、测试系统、测试步骤、测试报告编制要求。

适用场景:

芯片研发阶段性能验证测试

产品验收测试

第三方机构的标准化测评

作用:填补国内神经拟态芯片统一评测标尺空白,解决不同厂商芯片指标不可对比的问题,支撑类脑芯片研发迭代、选型评估。

核心技术内容概要

术语定义:脉冲神经元、突触、脉冲吞吐量、突触操作能效、神经元规模、突触规模、事件处理时延等类脑芯片关键指标。

测试环境与测试平台要求:硬件测试平台、软件测试框架、供电、温控、信号

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