集成电路可靠性设计与评价 课件02数学基础 .pptx

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集成电路可靠性设计与评价

第二章集成电路可靠性的数学基础

一、产品故障模型及可靠性指标二、常见的寿命分布函数三、可靠性的系统模型3.1、系统图和可靠性框图3.2、不可修复的系统可靠性3.3、可修复系统和网络系统

图片样式及图注格式半导体材料电子有效质量空穴有效质量硅(Si)0.23m00.12m0锗(Ge)0.03m00.08m0砷化镓(GaAs)0.07m00.09m0表格样式及标题格式

一、半导体的晶格1.结晶和非晶固态物质根据原子或分子的排列有序性,可分为单晶、多晶和非晶三种状态。单晶是原子或分子在三维空间中规则、周期性排列形成的固体,具有特定的几何外形、固定的熔点和各向异

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