基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术.pdfVIP

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2017-09-11 发布于重庆
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基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术.pdf

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第期电子学报 2 Vol.34 No.2 年月 2006 2 ACTA ELECTRONICA SINICA Feb. 2006 基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术 1 2 2 1 王伟 ,韩银和 ,李晓维 ,张佑生 ( 合肥工业大学计算机与信息学院,安徽合肥 ; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,北京 ) 1. 230009 2. 100080 摘要: 众所周知, 电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位降低测试 CMOS . 时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要. 文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关的晶体管的堆栈效应然后,我们提出了一种基于测试向量中不确定 . 位( 位)、使用遗传算法优化集成电路测试时漏电流的方法实验结果证明在组合电路和时序电路测试中该方法 X . 能够在不影响故障覆盖率的条件下,有效优化测试时电路的漏电流. 关键词: 漏电流;不确定位;遗传算法中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TP391.76 A 0372-2112 2006 02-0282-05 TechniuesofLeakaeCurrentO timizationBased q g p ’ onDon tCareBitsinTestVectors 1 2 2 1 , , , WANG Wei HAN Yin-he LIXiao-wei ZHANG You-shen g ( , , , , ; 1.Sch ch h230009 h