水热法制纳米CeO2膜及紫外吸收性能研究.pdfVIP

第24卷第2期 化 学 研 究 与 应 用 V01．24．No．2 2012年2月 ChemicalResearchandApplication Feb．，2012 文章编号：1004-1656(2012)02-0237-05 水热法制纳米 CeO2膜及紫外吸收性能研究 周 丽，刘连利 ，孙 彤 (渤海大学科技实验中心，辽宁省硅材料工程技术研究中心，辽宁 锦州 121000) 摘要：以Ce(NO，)，·6H：0和CO(NH：)为原料，采用水热法在玻璃基质上制备 了CeO2纳米膜。研究了水 热温度和时间对所制备纳米CeO：薄膜的抗紫外性能的影响。采用 XRD、FT-IR、SEM、UV—Vis以及 自动椭圆 偏振仪等测试手段对CeO：纳米膜及粉体进行了表征。结果表明，水热法制备的薄膜 ，最佳的水热工艺条件 为水热温度 130℃加热7h。在此条件下，制备的薄膜厚度达 lOOnm，晶型较好 ，膜表面平整度较高，且具有优 异的可见光透过性和紫外吸收特性。 关键词：水热法；纳米Ce02；膜 ；抗紫外性能 中图分类号：0614．3 文献标识码：A Preparation ofnanometerCeO2film byhydrothermalmethodandits UV-absorptionperformanceresearches ZHOU Li，LIULian-li‘，SUNTong (BohaiUniversityCenterforScienceTechnologyExperiment，LiaoningProvinceSiliconMaterialsEngineering TechnologyResearchCentre，jinzhou121000，China) Abstract：NanometerCeO2filmswel~[preparedontheglasssubstratebyhydrothermalmethodusingCe(NO3)3·6H2O and co(NH2)2asrawmaterials．TheeffectsofhydrothermaltemperatureandreactiontimeonCeO2filmsWercresearched，andtheUV absorptionofthefilmsWas alSOstudied．XRD、FT．IR、SEM 、UV．Visna dellipsometerwereusedtocharacterizethenanometerCeO， filmsandpowders．Theresultsshowthattheoptimum hydrothermaltechnologicalconditionis130℃ 7h．Underhteoptimum condi． tion．thethicknessoftllefilmswithwell—developedcrystallineisthinnerthan100am．Thesurfaceoffilmsisquitefiatnadwithex． ceUentvisiblelighttransmissionandultravioletabsorptioncharacteristics． Keywords：hydrcthermalmethod；nan0meterCeO2；film；anti-UV capbailiyt 近年来，由于大气中的臭氧层 日趋稀薄，到达 具有较好的化学稳定性、热稳定性、不分解、不变 地面的紫外线 日益增多，因此研制各种紫外屏蔽 质、无毒、无味、屏蔽紫外线的波长范围广等优点， 材料已经成为研究热点之一。纳米 ZnO、TiO、 而倍受人们的青睐【]。稀土元素具有许多特有 CeO、A1O，、SiO：粉体等无机类紫外线屏蔽剂因 的电化学性质和催化性质，尤其是 Ce和ce之