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磁控溅射及真空蒸镀制备的纳米氧化锌薄膜光电性质研究/马剑钢
摘 要
氧化锌 (ZnO)是一种重要的宽禁带半导体材料,室温下的带隙宽度为
3.37eV,激子束缚能高达0meV。自1997年首次在Zn0多晶薄膜上实现了室
温光泵浦紫外激光以来,有关ZnO材料的研究己经成为光电领域国际前沿课题
中的热点之一。针对当前Zn0的研究工作的热点问题,本论文主要对氮掺杂ZnO
多晶薄膜材料的光电性质和镶嵌在绝缘基质当中的纳米ZnO颗粒的结构和光学
性质进行了研究,具体研究内容如下:
(1)利用磁控溅射及后退火的方法制备出氮掺杂的Zn0薄膜材料,通过多
种表征手段研究了氮的掺入对ZnO薄膜微结构、紫外发光和电学特性的影响。
观察到由氮引起的局域拉曼振动模,以及束缚在中性受主上的激子的发光表明利
用这种方法能够实现对ZnO的有效氮掺杂,并可以通过改变退火温度的方法调
节ZnON:薄膜中氮杂质的含量。
(2)通过共溅射的方法,制备了包埋有ZnO纳米颗粒的Si02薄膜材料。
在800℃退火后得到了通常形成温度较高的Zn2SiO4材料。并在700℃退火温度
下形成Zn2SiO4/ZnO纳米颗粒的核壳结构。Zn2SiO4壳层的形成促进了ZnO纳米
颗粒中的应力释放以及缺陷态密度的降低,从而提高了Zn0纳米颗粒的近带边
紫外发光的效率。
(3)利用共蒸发及后退火的方法制备了Mg0包埋的Zn0纳米颗粒材料。
研究结果表明Mg0基质与ZnO之间形成的MgZnO合金层对ZnO纳米颗粒中
的载流子起到限制作用,并且部分钝化了ZnO纳米颗粒的表面缺陷。主要表现
为ZnO纳米颗粒材料的带隙宽度随退火温度升高逐渐增大,紫外发光峰蓝移并
且强度逐渐增强,而缺陷发光明显减弱。
关键词:ZnON:,磁控溅射,共蒸发,ZnO纳米颗粒,光致发光
摘要 /2004年
Abstract
Zincoxide(ZnO)isanimportantII-VIwidebandgap(Eg3.37eV)
semiconductorwitharelativelyhighexcitonbindingenergyof60meV.Sincethe
realizationofstimulatedemissionofZnOmulticrystalfilmsatroomtemperatureby
opticalpumpingin1997,researchesonZnOanditsrelatedmaterialshavebecome
oneofthemostpromisingandattractiveaspectsintheoptoelectronicregion.Inthis
thesis,weinvestigatetheopticalandelectricalpropertiesofnitrogendopedZnOthin
filmsandZnOnano-particlesthatembeddedinthedielectricmateriallikeMgOand
Si02.Thedetailsareasfollows:
(1)NitrogendopedZnOthinfilmswerepreparedbyradiorfequency(RF)
magnetronsputteringandsubsequentthermalannealing.UsingX-raydiffraction,
X-rayphotoelectronspectroscopy,Ramanscattering,photoluminescence(PL)and
Hallmeasurements,theeffectsofnitrogenincorporationonthestructural,opticaland
electricalpropertiesofZnOthinfilmshavebeeninvestigated.Emissionsrfomneutral
acceptorsboundexcito
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