怎样进行LED芯片寿命试验.pdfVIP

GettingtheRootOfMatter追根溯源 》 怎样进行LED芯片寿命试验 HDW T0D0LIFETESTFORLEDCHIPS 摘要：介绍了LED芯篾寿命试验过程 提出了寿命试验条件，完善的试验万寨 ，消除可麓影响寿命试验结果；佳确性的因素，保证 了寿命试验结果的客蹰性和准确性 采阁科学的试验线路和连接方式，使寿命试验台不但操作箍侄、安全，而且试验容量大 1、引言 作试验称为寿命试验，又称耐久性试验。随着LED生 产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观， 作为电子元器件，发光二极管 (LightEmjtting LED的理论寿命为1O万小时，如果仍采用常规的正常 Di0de—LED)已出现40多年 ，但长久以来，受到发 额定应力下的寿命试验 ，很难对产品的寿命和可靠 光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世 性做出较为客观的评价 ，而试验的主要 目的是，通过 纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的LED和 寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其 兰光LED，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工 寿命。、根据LED器件的特点，经过对比试验和统计 程、全彩屏等，提供了作为照明光源的可能性。随着 分析，规定了03×～03mm2以下芯片的寿命试验条 LED应用范围的加大 ，提高LED可靠性具有更加重要 件 ： 的意义。LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际 ● 样品随机抽取 ，数量为8～10粒芯片，制成 生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可 5单灯； 靠性水平进行评价 ，并通过质量反馈来提高LED芯片 ●工作电流为30mA； 的可靠性水平，以保证LED芯片质量。 ●环境条件为室温 (25oC±5℃ )； ● 试验周期为96IJ~时、1000JJ~时和5O00小时三 2、寿命试验条件的确定 种 ； 工作 电流为30mA是额定值的1．5倍 ，是加大电 电子产品在规定的工作及环境条件下，进行的工 应力的寿命试验 ，其结果虽然不能代表真实的寿命情 GettingtheRootOfMatter追根溯源 》 况，但是有很大的参考价值；寿命试验 以外延片生产 性和稳定性是抽样评估的前提 ，只有认为产品质量是 批为母样 ，随机抽取其中一片外延片中的8～10粒芯 均匀的，抽样才具有代表性；其次，由于实际产品质 片，封装成 5单灯器件，进行为96／J~时寿命试验， 量上存在～定的离散性，可以采取分区随机抽样的办 其结果代表本生产批的所有外延片。一般认为，试验 法，以提高寿命试验结果准确性。通过将芯片按其在 周期为1O00；J＼时或以上的称为长期寿命试验。生产工 外延片的位置分为四区，每区2～3粒芯片，共8～10 艺稳定时，1O00JJ＼时的寿命试验频次较低，5000Jj＼时 粒芯片，对于不同器件寿命试验结果相差悬殊，甚至 的寿命试验频次可更低。 矛盾的情况 ，又规定了加严寿命试验的办法 ，即每区 4～6粒芯片，共16～20粒芯片，按正常条件进行寿命 3、过程与注意事项 试验 ，只是数量加严 ，而不是试验条件加严；第三，