Data Acquisition and Analysis for Emittance Measurement Devices.pdfVIP

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274 IMP HIRFLAnnualReport 2009 focalspotandconsequenthigherpowerdensityonthetarget,whichisadvantageoustothehighlycharged ionproduction.PromisingresultsareexpectedontheLISwithalIthesemodifications. ● ● J ● 1 6—29 DataACqllISIU0n ancIAnalysisforEm ittance M easurementDevices LiPeng,W uJunxia,YuanYoujin,YangYaqing,YangShengliandMaoRuishi Inordertomeasuretheemittanceofthebeam ontheinjectionlineofHIRFL—CSR,twotypesofemit— tancemeasurementsystemshavebeendesigned.Thereareslit—gridandpepper—potsystems.Theformeris aone-dimensionalem ittancemeasurementdeviceandthelatterisatwo—dimensiona1one. Severalparameterssuchastheposition andtheangle ’ ofthebeam mustbeacquiredtocalcu— latetheresult. Fig.1 Theimageofbeam Intheslit—gridsystem .thepositionofthebeam canbegotfrom theslit’sposition.Thebeam ’sposi— tiononthegridisknown。andthedistancebetweenslitandgridisL.Then wecangetthe ’from the f0rmula 一 X— z /L.Step—motorareusedtocontroltheslitandgrid’sposition.Theintensityofthe beam can beacquiredfrom thecurrentonthegird byusingtheNIcard. Inthepepper—potsystem .thepepper-pot’sposition wil1beconverted to thepositionofthebeam . Thereare27×27holesinatungstenfoil.Thediameterofeachholeis0.2mm ,thedistancebetweenfoi1 andscreenis150mm.Pepper—potimagesarerecordedwithahighspeedCCD camerawith a1344×1024 pixelresolution[ Thentheangleofthebeam canbecalculated from aboveparameters. . Onthebasisoftheknownsetupandmeasurementparameters,theevaluationprogram firstconverts andstoresthemeasureddatainafile.Andthereareseveralwaystodothedataresampleandcalculatethe emittance.Forexample,wecanusetheformula[。]-一、,/ _z。 一 。tocalculatetheRMSemit— tanceofthebeam.Othertypesofemittancecanbealsogot.

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