10测量过程控制技术—统计过程控制—OK.pptVIP

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均值-标准差图(Xbar-S) n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 B4 3.27 2.57 2.27 2.09 1.97 1.88 1.82 1.76 1.72 B3 * * * * 0.03 0.12 0.19 0.24 0.28 A3 2.66 1.95 1.63 1.43 1.29 1.18 1.10 1.03 0.98 注:在样本容量低于6 时,没有标准差的下控制限。 控制图的制作 均值-标准差图(Xbar-S) 建立分析用控制图,并在图上标出测量点。 纵坐标为所采用的统计控制量,横坐标为时间坐标。并在图上画出CL、UCL和LCL三条控制界限。在图上标出测量点后将相临的测量点连接成折线,即完成分析用控制图。 对分析用控制图的测量点判异:按照异常点判断的各项准则,对各测量点的分布状况进行判断。若测量点没有异常,则表明测量过程处于统计控制状态。 延长Xbar-R控制图的控制线作控制用控制图,进行日常管理。 控制图的制作 均值-标准差图(Xbar-S) 控制图的制作 控制图的判异标准 控制状态的标准可归纳为二条: 第一条, 控制图上点不超过控制界限; 第二条, 控制图上点的排列分布没有缺陷。 过程受控所遵循的一般依据: 连续25点以上处于控制界限内 连续35点中, 仅有1点超出控制界限 连续100点中, 不多于2点超出控制界限 过程缺陷的八种异常模式: 1点落在A区以外; 连续9点落在中心线同一侧; 连续6点递增或递减; 连续14点中相邻点交替上下; 连续3点中2点落在中心线同一侧的B区以外; 连续5点中4点落在中心线同一侧的C区以外; 连续15点落在中心线两侧的C区内; 连续8点落在中心线两侧且无一在C区内。 控制图的判异标准 UCL LCL CL A B C C B A 第一种模式:1点落在A区以外; 测量点出现在A区之外的概率仅为0.27%,因此任何测量点出现在A区之外,均可立即判为测量过程异常,测量点超出上界,表明统计控制量的均值增大;而当测量点超出下界,表明其均值减小。 测量点出现在A区之外 控制图的判异标准 第二种模式:连续9点落在中心线同一侧: 测量点出现在控制图中心线的同一侧的现象称为链。9点链出现的概率仅为0.38%,链的出现表明统计控制量分布的均值向出现链的一侧偏移。 连续9个点出现在中心线同一侧 控制图的判异标准 第三种模式:连续6点落在中心线同一侧: 测量点排列出现单调递增或递减的状态称为趋势。计算表明,6点趋势出现的概率为0.27%.趋势的出现表明统计控制量的均值随时间增大或减小。 连续6个点呈现单调递增递减 控制图的判异标准 第四种模式:连续14个测量点呈现上下交替排列: 计算表明,连续14个测量点呈现上下交替排列出现的概率为0.37%,最接近于显著水平。此时表明测量过程受到某种周期性效应的影响。 连续14个点上下交替排列 控制图的判异标准 第五种模式:连续3个测量点中有2点出现在中心线同一侧A区中: 计算表明,连续3个测量点中有两点出现在中心线同一侧A区中出现的概率为0.27%.与规定的显著水平相一致。当出现该种情况时,则可以判定测量过程异常。 连续3个测量点有2个测量点出现在中心线同一侧A区中 控制图的判异标准 第六种模式:连续5个测量点中有4点出现在中心线同一侧的B区或A区中: 计算表明,连续5个测量点中有4点出现在中心线同一侧的B区或A区中出现的概率为0.51%,比较接近于规定的显著水平。此时表明该控制图所选用的统计控制量向该侧偏移。 连续5个测量点中有4点出现在中心线同一侧的B区或A区中 控制图的判异标准 第七种模式:连续15个测量点出现在中心线两侧的C区中: 计算表明,连续15个测量点出现在中心线两侧的C区中出现的概率为0.33%,比较接近于规定的显著性水平。对于这种分布异常,不要认为这是测量过程得到改进的结果,这种情况的出现往往表明由于控制图设计的错误而导致控制界限过宽而造成的。此时的控制图已失去对测量过程的控制作用,而应重新采集数据制作新的控制图。 连续15个测量点出现在中心线两侧的C区中 控制图的判异标准 第八种模式:连续8个测量点出现在中心线两侧并且全部不在C区 出现这种请况往往表明:该统计控制量的分布是两种不同分布的混合,并且其中一个分布的均值与另一个的均值有明显的差异,同时在测量过程中两种分布交替出现。 连续8个测量点出现在中心线两侧并且全部不在C区 控制图的判异标准 谢谢大家 测量过程控制技术 —常规控制图及其应用 SPC 的管理理念图解 不要等产品做完后,再去评价

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