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氧化法热处理温度对氧化钒薄膜热敏特性的影响.pdf
第32卷 第5期 材 料 科 学 与 工 程 学 报 总第151期
Vo1.32 NO.5 JournalofMaterialsScience Engineering 0ct.2014
文章编号:1673-2812(2014)05—0649—04
氧化法热处理温度对氧化钒薄膜热敏特性的影响
徐 凯 ,路 远 。,凌永顺 ,乔 哑 。,唐 聪
(1.电子工程学院,安徽 合肥 230037;2.红外与低温等离子体安徽省重点实验室。安徽 合肥 230037)
【摘 要】 采用直流磁控溅射法制备氧化钒薄膜 ,并采用不同的温度对其进行氧化法热处理,通过
XRD、SEM、四探针薄膜电阻测试,分析了不同热处理温度对氧化钒薄膜 的晶相特性与热敏特性婚影
响。实验分析证明热处理温度升高后(400℃)得到的薄膜热敏特性 良好,其室温电阻为 160K~·CrU,室
温电阻温度变化系数为一2.4%/℃,变温过程 中(20~98℃)其平均值约一1.98 /℃,表 明温度升高有
利于改善薄膜热敏特性 ,在非制冷红外探测器应用方面具有发展潜力。
【关键词】 氧化钒 ;氧化法;热处理温度 ;热敏特性
中图分类号 :TB381 文献标识码 :A
EffectsofAnnealingTemperatureonThermallySensitive
PropertyofVanadium OxideThinFilms
XU Kai ,LU Yuan ,LING Yong-shun ,QIAOYa ,TANG Cong’
(1.ElectronicEngineeringInstitute,Hefei230037,China;2.InfraredandLow
TemperaturePlasmaKeyLaboratoryofAnhuiProvince,Hefei230037,China)
[Abstract] Vanadium oxide(VO )thinfilmsweredepositedbyDCmagnetronsputteredmethod,and
thenannealedinanoxygencontainedatmosphereatdifferenttemperature.XRD,SEM andfour—pointprobe
resistancemethodwereemployed tOstudytheeffectsofannealing temperatureon thephasecomposition and
temperaturesensitivepropertyofthevanadium oxidethin films.Theresultsoftheinvestigation andanalysis
show thatthermallysensitivepropertycanbeimprovedwiththeannealingtemperaturebeingraisedto400~C.
Theresistivityatroom temperatureis160K~~·cm ,theresistance—temperaturecoefficientatroom temperatureis
一 2.4 /~c andtheaveragevalueover20~ 98℃ is一 1.98%/~c.Thethinfilmshavegreatpotentialin
application asthermalsensormaterialinuncoolIR detector.
[Keywords] vanadium oxide;oxidationmethod;annealingtemperature;thermallysensitiveproperty
氧化钒薄膜具有较高的电阻温度系数 ,因此氧化钒薄
引 言 膜可被应用于非制冷红外探测器热敏元件。
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