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一种基于32位ARM微控制器电路的 辐射效应研究 杜川华 赵洪超 王彦文 唐太岗 中国工程物理研究院电子工程研究所 四川 绵阳621900 摘 要 针对一种基于32位ARM微控制器的试验电路，研究其瞬时电离辐射效应和电离总剂量 辐射效应。在 “强光一号”脉冲加速器上进行了γ瞬时电离辐照试验，在60Coγ射线源上进行了电离总剂 量辐照试验，给出了试验测试结果并分析了失效阈值和失效模式：电路的瞬时电离辐射效应表现为 剂量率复位重启和剂量率闭锁，闭锁阈值为5× 107Gy/Si.s;电路的电离总剂量辐射效应表现为随着辐 照总剂量的增加，其工作电流逐渐增加直至功能失效，功能失效阈值为180Gy(Si)。 关键词 辐射效应;γ瞬时电离辐射 ;电离总剂量;辐照试验;ARM微控制器 四』II省电子学会曙光分会第十六届学术年会论文集 57 电路、铁电存储器FRAM、A／D转换器、32位ARM微控制器、CAN总线收发器等器件组成。其中电 源模块将外部12V输入电压分别转换为5v幂n3．3V的芯片工作电压，晶振提供20MHz时钟频率，复位 电路提供上电复位信号，使电路在上电瞬间完成ARM芯片内部各个寄存器清零操作；32位ARM微控 制器是试验电路的核心芯片，主要完成循环叠加运算、对存储器的数据读写操作、对A／D转换器的 数据采集以及控制cAN总线芯片实现与外部计算机的数据传输等功能。 压，主要功能是将CAN控制器的逻辑电平转换为CAN总线的差分电平，速率最高达1MB／s。 CANtlli(controllerAreaNetwork)是一种多主串行数据通信总线，采用差分电压传送信号，物理信号线 只有两根，分别称为CANH和CANL。静态时电压均是2．5V左右，此时状态表示为逻辑1，称为隐 性；当CANH电压比CANL高时表示逻辑0，称为显性。当总线上有任何拉低总线电位时，都会引 。 的电压通常为1．5V 起总线处于显性状态，此时CANH的电压通常都为3．5V，CAN _L 2辐照试验及测试方法 验电路表面的热释光剂量计测量的辐射总剂 图2瞬时电离辐照试验测试框图 量除以脉冲宽度，即得到本次试验的辐射剂量 率。 瞬时电离辐射效应试验及测试框图如图2所示。试验电路放置于金属盒内，以屏蔽电磁干扰；依 据需要的剂量率将金属盒放置在辐照间距离靶面的一定位置处，距离靶面越近，辐照剂量率越高： 热释光剂量计紧贴于试验电路中ARM芯片表面以测试辐照总剂量：辐照间的试验电路与测试间的测 试仪器通过40m屏蔽电缆相连接，具体的连接方式为：直流稳压电源为试验电路提供12V输入电压， 其间串入高精度电流表，实时监测电路的工作电流；试验电路输出数据连接到测试计算机，通过计 算机可实时读取、分析和存储试验数据。 瞬时电离辐射效应试验测试的参数包括试验电路的工作电流和ARM微控制器的循环叠加运算 BB BB” 功能。正常状态下试验电路的工作电流为0．12A。叠加运算输出数据的格式为“7data’，其中“7 58 一种基于32位ARM微控制器电路的辐射效应研究 02 表示帧头，data为计算数据，从“Ol 03”开始做循环加1计算，当达到最大值“FF”时自动赋值“Ol” 继续叠加运算。 2．2 电离总剂量辐照试验 源，在器件被辐射的范围内辐射场均匀性优于10％。电离总剂量辐照试验测试框图与图2类似，区别 在于试验电路不需要放置在金属屏蔽盒中，而是直接固定在辐照间的测试