PVC%2fMBS共混物冲击断面的分形探究.pdfVIP

2003年全嘲高分子学术论文报告套 杭州2003年10月争一14日 PVC／MBS共混物冲击断面的分形研究 陈旭东1汪加胜2沈家瑞2 (1中山大学高分子研究所，功能材料与复合材料教育部重点实验室，广州，‘510275， 电话：020电子信箱：chenkr@163．net) 汪家胜 沈家瑞 (2华南理工大学高分子材料科学与工程学，广州510641) 对材料断裂表面的传统分析中，只能定性地说明断口形是脆性、韧性和两者的混合形式等。 Mandelbrot等“1 1984年的实验发现，材料断裂表面具有分形结构。材料断面的定量分析已成 为材料变形的断裂面研究不可缺少的部分。分形作为一种新方法，用分维来表征断裂面，它 是断裂面粗糙度的一种度量，断裂面的形貌受材料微观结构、宏观结构(样品尺寸、形状、 缺口等)和实验条件的影响，而这些影响断面形貌的因素，则决定了材料的力学性质，因此 通过对断面的分维测量可以了解材料的结构和力学性质。本文利用=次电子衬度曲线分别测 定PVC／MBS断裂面的表观分维和真实分维，并讨论材料韧性与断面分维的关系。 纯PVC是典型的脆性断裂，靠近缺口处比较光滑，在其周围呈现发散状结构，离缺口越 裂源，只看到不规则放射带，当MBS增加到12份时，在材料冲击断面上表现出其有韧性断 裂特征的大形变，在断口上出现韧窝或撕裂背形状，还可看到形状大小不规则的“须根”。用 MBS增韧PVC，材料从脆性到韧性转变，利用SEM可以直接观察到断裂表面从脆性转变成 韧性的形特征。 我们利用扫描电子显微镜直接拍摄样品断面的二次电子形貌，再利用计算机图像处理系统 对表面形貌提取获得灰度值边界阴影，用阴影边界线的分维来表征表面的无规粗糙度。SEM 二次电子形貌像主要反映固体表面的3维形貌特征。SEM工作参数恒定的情况下，表面二次 电子发射量与电子束对固体表面法线夹角0的余弦倒数1／cos0成正比，断面不同程度的凹凸 起伏，使入射电子束呈不同程度的倾斜，因而由各相应微区发射的二次电子量也不相同，从 而导致显像管上对应的亮度差异。实际上断面可被视为由大量不同尺寸及角度的小平面构成， 每一小平面产生的二次电子强度决定于其入射电子束问的夹角。我们实验得到PVC／MBS共混 物断面沿裂纹扩展方向(图和垂直裂纹扩展方向的二次电子衬度曲线立体图。在统计意义上， 我们视粗糙表面的不规则程度与SEM图象衬度值的差异二者区域分布的不规则程度是一致 的。分形的表面必然产生分形的SEM衬度值的阴影，等衬度值阴影边界分维与表面分维存在 着统计意义上的对应关系。我们以不同的测量码尺测定二次电子衬度曲线长度，用图象分析 系统处理摄得的二次电子衬度曲线，在所测量标尺范围内，通过二次电子衬度曲线的线性粗 糙度参数RL(r1)与测量码尺n之间的关系曲线求得分形维数Df。 本实验中发现，当测量码尺小于0．3 n不量线性关系。而当测量 um时，lgnt(rt)与lg 码尺大于5 n也不呈线性关系。只有测量码尺在0．3—5um范围内， um时，19皿(n)与Ig rt曲线的数据点都 lgRL(q)与lgq呈线性关系，测量码尺过大或过小时，lgex(r1)与Ig n数据点的直线部分，设其斜率为k，则断面分 偏离直线。在测量分维时应取lgRL(n)一lg 维为D=l-k。由次表明在0．3—5um测量码尺范围内，体系具有自相似性，超出此区域则不具 有自相似性，也就是不能认为是分形体系。这个具有自相似性的取值范围也称为无标度域。 捌培 B 2003年佥固南分子学术论文报告会 杭州2003年10月9_一14 文献口1也曾报道典型的材料断面粗