高功率二极管激光器阵列可靠性的探究.pdfVIP

第33卷增刊 中 国 激 光 V01．33，Suppl． 2006年3月 CHINESE oFLASERS March，2006 JOURNAL 文章编号：0258—7025(2006)Supplement．0006—4 高功率二极管激光器阵列可靠性研究 高松信1’2，武德勇1，魏彬1，吕文强1 ，1中国工程物理研究院应用电子学研究所，四川绵阳621900、 ＼ 2电子科技大学光电信息学院，四川成都610054／ 摘要通过高功率二极管激光器封装实验对二极管激光器单元的封装工艺可靠性进行了物理分析，对组装的大功 率阵列二极管激光器以及抽运模块的失效特性进行了分析。根据分析结果，提出了高功率二极管激光器单元以及 大功率阵列激光器的可靠性测试方法。任意抽取经过可靠性测试的激光器，在冷却水温20℃条件下进行寿命测 试，根据实验结果得出退化率，推算出准连续二极管激光器在水温20℃，电流150A，占空比为15％(500Hz， 300“s)时，平均激光工作寿命达到5×109次脉冲，且寿命测试过程中激光器再没有发生失效。结果表明，经过单 元老化筛选后的二极管激光器，其运行可靠性得到进一步保证。 关键词激光技术；二极管激光器i可靠性；失效；封装，抽运 中图分类号TN242文献标识码A of PowerDiodeLaserStack ReliabilityHigh GAO Binl，LU De—yon91，WEI Song—xinl”，WU Wen-qian91 Institute f1 ofAppliedElectronics，ChinaAcademy 621900，Chinal 2 School ElectronicScienceand China， l ofOptoelectronicInformation，Universityof Technologyof 610054，China Chengdu，Sichuan AbstractThe of aboutdiodelaser(DL)unitandthedefectcharacteristicsof DLstack reliabilitypackagingtechnique highpower and moduleare methodsforthe of DLunitandstackismade．Random pumping analyzed．Testing reliabilityhighpower samples selectedfromthelasers the testswereusedforlifetimetest．Undertheconditionsof water of passingreliability coolingtemperature 20℃，currentof150A，and of15％(500Hz，300u8)，the resultsledtoanestimatedlifetimeof5×109 dutycycle experimental shots．Nodefectwasfound thelif