OTDR测量光缆衰减系数的若干问题探析.pdfVIP

技术篇 2011’光纤光缆及光器件产品技术研讨会 OTDR测量光缆衰减系数的若干问题探析 陈国庆’ 工业和信息化部信息传输线质量监督检验中心 摘要：采用基于后向散射技术的OTDR测试光缆衰减系数受光缆沿长度方向的衰减不均匀性、测试长度因素影 响，并且影响程度由于不同精度的仪器而不同。本文在对此分析的基础上进行了验证，并对由于客观条 件限制而测试长度有限的情况给出了建议。 关键词：OTDR；后向散射；衰减系数；衰减均匀性；测试 0 引 言 众所周知，后向散射技术是测量光纤光缆衰减的基本方法之一，由于其使用的便捷而深受欢 迎。特别是光缆工程施工上的应用更显示出其独特的技术优势。然而，事物总是一分为二的，特 别是面对测试对象的纷繁复杂，例如试样的不同长度、光纤光缆衰减特性等，有时也会多少显露 其劣势的一面。在这种情况下，如何在必要的测试精度和对测试对象的基本要求方面达到一种恰 如其分的平衡应是我们应当考虑的。下面试就此结合实际进行一些探析，以期对某些特殊情况下 的光缆衰减测试能得到可靠的结果。 1 光缆衰减不均匀性影响 将光功率为R、宽度为而的光脉冲注入光纤，在传输z距离后，光功率P∞为： p(z)=PolO-趔10 (1) 后向散射功率为： 0’趔10 R。∞=P(Z)．义z)1 =Po故z)10‘砌10 (2) 式中，取z)为Rayleigh后向散射系数；仅为光纤衰减系数。 散射总功率之比)]为： ·义z)=(％ToaRr)／2 (3) 式中％为光纤中光传输的群速，％为光脉冲宽度，CZR为Rayleigh散射系数，，．为后向散射系数(后 向散射功率与Rayleigh散射总功率之比)。这是～个与光纤的结构参数有关的量，因为式中所含，．， 对于单模光纤而言为： r=(3／2)(Coo／a)’2矿2U啊厢J2 (4) ·技术主管高级工程师 ．73． 遵雾2011光纤光缆及光器件产￡技术研讨会 技术篇 式中蛳为光纤模场半径，a为光纤芯半径，P为光纤归一化频率．M_为光纤数值孔径，‰为光 纤芯折射率。 采用后向散射技术的光纤衰减系数可表示为： (5) a=(5／Z)(Ig[凡(0地(司]一ig[H0)㈣]) (5)式表明，衰减与Rayleigh后向散射系数∽有关，如果光纤在长度方向上不均匀，R刁 不是常数，则上式中的第二项为非零。这时的a严格讲是z的函数。 随着光纤制造技术的日臻完善，虽然光纤这种结构上的不均匀已降低到很低的水平，然而作 为成缆后的光纤，由于难以完全避免的光缆结构上的原因，导致光纤沿光缆长度方向上不同程度 存在微弯和宏弯的分布，使光纤有效结构参数如NA沿光缆长度方向授生变化，则上式中的第二 项同样为非零。 我们采用OTDR分别对光纤和光缆进行了测试验证，结果见表2和表3。 光纤测量长度500～700m．当测试光标其中个固定，一个移动时可看到反映沿长度不均匀 性的衰减系数变化。 袁1光纤500—700m测试长度结果 km’j km‘， 光{‘Ⅻ4试*崆／km 世碱常数，(dB 惶蜉脚【dB 光缆的实际测试长度为700m，测试了12根光纤．每根光纤测试时同上述，一个光标固定， 一十移动。