基于点阵式上转换探测技术的低频窄脉冲激光光斑采集方法的研究.pdfVIP

基于点阵式上转换探测技术的低频窄脉冲激光光斑采集方法的研究.pdf

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基于点阵式上转换探测技术的低频窄脉冲激光光斑采集方 法的研究 陈志斌薛明晰侯章亚 (军械工程学院军械技术研究所,石家庄,050000) 激光光斑测试广泛应用于多个工程领域,CCD法是高精度、自动化的测试 方法,但低频窄脉冲激光光斑测试由于光斑不易被普通CCD捕获而成为一个难 题。目前已提出的解决方法是采用同步触发装置,但会使整个测试装置的复杂 性和设计的成本大大增加。因此,我们研究采用上转换发光技术这种新的方法 解决这个难题。 在采集低频窄脉冲激光光斑的过程中,通常在CCD镜头前加装一块专门设 计的面阵式上转换板,运用上转换板的快速红外上转换功能,对低频窄脉冲激 光进行波段转换(红外至可见光)和持续时间延长,转换成的光斑被普通CCD 很容易地捕获,再进行后续处理和分析。实验结果证明,通过上转换板采集激 光光斑,可以实现将红外光转换为可见光,并延长激光脉冲的持续时间,使普 通CCD也可很容易探测到激光光斑,降低了设计的成本,为解决低频窄脉冲激 光光斑测试的难题提供了一种新的方法。 在使用面阵式上转换材料采集光斑的过程中,出现的问题主要有下面两点: ①上转换材料内部的漫反射造成的光斑形状失真,使光斑尺寸参数的检测精度 降低;②上转换材料的饱和效应导致的光强分布失真,导致光斑质心参数的检 测精度降低。为解决上述两点问题,我们改进了上转换板传统的面阵式工艺, 提出了一种新的点阵式上转换板制作工艺。即在不透光的塑料板上镂空若干个 规则分布的小圆孔,圆孔中填充上转换材料。这种上转换板不仅能实现光斑成 像,而且由于上转换材料不是连续的,可以消除系统中的漫反射和上转换材料 的饱和效应的影响,使所成光斑图像的形状和光强分布不失真。 基于上述两种工艺,我们设计出了一种包含上转换板、CCD和光电测控平 台等部件的低频窄脉冲激光光斑测试装置。并将点阵式、面阵式两种上转换板 在该装置内进行了实时光斑采集测试,通过计算机图像处理对光斑进行尺寸、 质心、光强分布等参数的分析计算并进行对比,说明了点阵式上转换板较好地 解决了上述问题。 为评价点阵式上转换板采集光斑的质量,我们提出了一个评价公式如下: F(g,I,p)=f(a,D,,) 其中g表示光斑尺寸参数,I表示质心参数,P表示光斑图像分辨率;d表 示上转换材料填充厚度,D表示点孔直径,,表示点间距。 根据上述评价模型能较好地设计所需光斑检测精度更好的点阵式上转换板 的加工制作工艺。

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