铁电极化疲劳效应的微分电滞回线谱分析.pdfVIP

2005 2005年10月 四川大学学报(自然科学版) Oct 2 ofSichuan ScienceEdition) Vol42Issue 第42卷增刊2 Journal University(Natural 文章编号：0490—6756(2005)022—0073—04 铁电极化疲劳效应的微分电滞回线谱分析 沈韩1，陈敏1，朱贵文2，罗劲明1，李景德1 (1．中山大学物理系，广州510275；2．广东药学院，广州5t0006) 摘要：铁电体的极化强度P是根据电滞回线计算的，但漏电电导、顺电电容、电极扣样品表面 接触层、p”结电阻等的影响使得精确测量回线非常困难．作者引入微分电滞回线谱分析方法， 可将上述多种效应从总效应中定量扣除而得到纯铁电性的贡献对锆钛酸铅陶瓷的测量结果 表明，纯铁电微分回线可用少数几个高斯型函数精确拟舍疲劳效应表现为高斯函数个数，峰 位u。、峰高J。、峰宽△等参数随极化反转次数N的增加持续变化与电滞回线相比，微分回 线是描述极化疲劳的更为严格有效的方法． 关键词：极化疲劳；微分电滞回线；锆钛酸铅 4 文献标识码：A 中图分类号：0482 引言 铁电薄膜材料由于具有易与硅半导体集成工艺相结合的特点，可用来制作多种新型的集成化功能器 件-1】，如非挥发性铁电存储器等，有着广泛的应用前景．铁电材料的应用大多以极化反转效应为基础，但疲 劳效应，即极化强度P，随所加外电场周期数N的增加而逐渐减小直至消失的现象，严重阻碍了集成铁电 学的商业化进程㈨． 一般地，P，根据电滞回线计算，但由于回线的测量受多种因素的影响，如样品的线性漏电电导、线性 顺电电容，电极与样品表面接触形成的耗尽层电导以及测量过程中需加很强的外电场而出现的非线性电 导和非线性顺电电容等等，很难精确测出纯铁电性的贡献甚至会出现不闭合的电滞回线，使得传统基于 闭合回线定义的极化强度成为不确定的值”1．可以说，电滞回线测量的困难性在一定程度上阻碍了对疲劳 成因的研究．因此，找寻一种能得到纯铁电性信号的实验方法就显得十分迫切． 2实验结果及讨论 2．1微分电滞回线测量方法 微分电滞回线的测量原理如图1(a)所示。外加电压为峰值等于±L『P的三角波在u的作用下通过 铁电j(u)曲线当样品为纯电感L时出现(i)的情况，±，两边各为一段抛物线；，和u轴都是对称轴 图1(e至i)中的小箭头标出了时间￡增大时曲线扫描的方向．电容性顺时针方向扫描。电感性逆时针方向 扫描注意全部电容性情况在U=±乩上都有I的跳变，(u)曲线在跳变点上重合了，曲线是闭合的． 实验证明，图l(h)中的正1支曲线为高斯函数： 收稿日期：2005．08．3l 基金项目：广东省科技计划项目(Cli02)；f-东省自然科学基金项目 oam 作者简介：沈韩(1973一)，男，讲师E-mail：zsushenhan@163educn stdpll@z．su 74 四川大学学报(自然科学版) 第42卷 (1) ，+=dQ，／d￡=G+(u)=—专exp[一(u—uu)‘／2△2] △√2” 的一段或可分解为若干个高斯函数的简单叠加“J，若样品电极的面积为n，极化强度为P，则表面屏蔽电荷 述．一般地，由于样品表面不严格对称，