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基于电路设计的航天设备抗辐射加固技术
王佩 李磊 何春
电子科技大学电子科学技术研究院 成都 610054
摘 要：抗辐射是航天环境下电子设备最重要的性能指标，抗辐射加固技术也是当前航天电子技术的研究重点。
本文从辐射环境的介绍出发，对辐射效应进行了阐述，并着重对基于电路设计的抗辐射加固技术进行了研究和总结，
最后提出了几点关于抗辐射研究亟待研究的问题和发展方向.
关键词：辐射效应；抗辐射加固技术；ECC;TMR;DICE
StudyontheRadiationHardeningByDesignin
spaceflight
PeiWang LeiLi ChunHe
ResearchInstituteofElectronicScienceandTechnologyofUESTCChengDu610054
Abstract:RadiationtolerateisthemostimPortantperformanceindexforelectronicequipmentinspaceflight,the
RHBDisalsotheresearchfocusofspaceelectronictechnology.Thepaperintroducedfromenvironmentalradiation,the
radiationeffects,andemphaticallyexpoundedRHBDisstudiedandsummarized.Finally,proposessomeradiationhardened
problemsandthedevelopmentdirectionforfutureworks.
Keywords:RadiationEffect;RHBD;ECC;TMR;DICE
总剂量效应是器件在1
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