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高速数字IO缓冲器瞬态行为建模及其在同步开关噪声分析中的应用.pdf
Vd.28 11
第11期 电 子 学 报 No
2000年11月 ACTAELEETRONICASINICA Nov2c00
高速数字t/O缓冲器瞬态行为建模及其
在同步开关噪声分析中的应用
蔡兴建,毛军发,陈建华,李征帆
(上海交通大学电子工程系,上海200030)
BufferInformation
摘要:术文阐述了从最新版本的IBlS(1/o
的瞬态行为模型的推导过程,获得r建模所需要的充分条件.与相应的晶体管级模型(SPICE模型)相比,该方法在获
得了更高仿真精度的同时,提高了具有大量同步开关器件芯片互连的仿真速度采用这些模型有效地分析了多芯片互
连非线性电路中的同步开关噪声,证实了差分波形传输信号的优越性.
关键词: IBIS模型;高速数字I/0缓冲器;瞬态行为模型;同步开关噪声
中图分类号:TP334.4文献标识码: A 文章编号:0372-2112(2000)11.0036-03
TransientBehavioral ofthe I/OBufferand
ModelingHigh-speudDigital
Noise
Its inthe ofSimultaneous
Analysis Switching
Application
Cai Jun-fa,ChenJian-hua,Li
Xlng-jian,Mao Zheng-fan
200030,O/net)
(却#.ofElectronic日P”M。r,ShanghaiJiaotⅫngU女,ersity,Slumghai
Abs【rac【·Thederivation in transientbehavioralmodelsof I/Ohilffersfromlatestversion
procedurebuilding high-Sl:eeddigital
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IBIS the sinTalatiom interconnectanda ofsimultaneous
models(SPICEmodels),this including
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switchi
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