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在单一散射角测定样品的分子量 英国马尔文公司 Zetasizer Nano ZS 纳米粒度和 Zeta 电位分析仪 杨正红 英国马尔文仪器（中国）有限公司 马尔文公司 2003 年 5 月推出的 Zetasizer Nano 系列纳米粒度和 Zeta 电位分析仪是在 2000 年 7 月问世 的Zetasizer HS 系列和 2001 年 9 月问世的 HPPS 的基础上发展起来的，它不仅继承了原有仪器的鲜明特点（如 测量范围宽，浓度应用范围广，高分辨 Zeta 电位，APD 检测器等），而且还发展了许多其它功能，包括分子 量测定，旋转半径，第二维里系数测定，SOP，和随时间及温度的趋势分析等。Zetasizer Nano ZS 作为该系列 中的顶级配置，尚无其它厂家仪器可与之匹敌，其技术特点综述如下： 一．仪器功能： 1.具有最宽的纳米粒度范围及最低的下限：0.6nm - 6µm，可测量高分子大小。 2. 具有最宽的浓度应用范围：0.1ppm – 40% (w/w)，下限已经极低。最少样品量仅 0.75ml 。 3. 独有的高分辨 Zeta 电位技术：可分辨率 5mV 以下的不同粒子的Zeta 电位贡献，可轻易发现污染物， 并可测定高盐浓度及极低迁移率的样品。 4. 可对分子量进行测定，包括旋转半径和第二维里系数。 而一台分子量测定仪器价值即在 7 万美金左右。 5. 是唯一具有标准操作规程（SOP ）的纳米粒度分析仪 器。 6. 随时间及温度变化进行趋势分析。 7. 与自动滴定（MPT-2 ）相连接后，可自动测定粒度、 Zeta 电位随pH 、盐浓度和电导率变化的，自动测定分 子量，最少仅需 3ml 样品。 8.温度控制范围：2 – 90 ºC 二．仪器原理及创新： 1.粒度测量原理：全范围米氏理论（Mie Theory ） 2. 动态光散射法中的创新：非侵入式背散射法，该方法使过去三种分立的动态光散射技术（即经典 PCS ，经典背散射及增强型背散射）得到了统一和扩展，并使得测定粒度下限在温和条件（即低成 本）下延伸至 0.6nm （分子量1000 左右的分子大小）。 非侵入式背散射法设计还具有以下特点： 利用自动样品池定位仪自动调节各种样品的最佳测量设置 在 300,000:1 的动态范围内自动调节激光衰减 精确的样品池温度控制 2 – 90 ºC 高效率的雪崩式光电二极管（APD ）检测器提供了最高的灵敏度 激光功率监视器和样品透过率检测器保证数据质量 高稳定的 He – Ne 激光器确保数据的重复性。（固体二极管 激光器的光束有很高的分散性和较差的相位相关性，导致 较低的数据重复性。） 图 2 非侵入式背散射法与其它动态光散射 技术比较示意图 自动调整样品池位置拓宽了浓度测量范围。样品池的最佳测 白色：非侵入式背散射法的粒度及浓度范围； 黄色：经典 PCS 粒度及浓度范围； 量位置依赖于样品的浓度，对于粒度小和浓度较稀的样品，检测 红色：经典背散射粒度及浓度范围； 绿色：增强型背散射粒度及浓度范围； 位置接近样品池中心以增大观测体积，对于较浓的样品在接近样 品池壁的位置检测，以缩短穿过样品的激光的路径，提供较高的测量精度。 3. 分子量测定原理：静态光散射法 大分子重均分子量的测定一般是通过 Zimm 图（如图3 ）来求得的，即在不同的角度对被测样 θ = 0