红外焦平面硅CMOS信号处理电路测试技术.pdfVIP

’红外焦平面硅CMOS信号处理电路测试技术 孙明遵 周茏隆 i乐北激【迫j_二吃昕．i充盈，1l(032) 播要： K芝：；!’j，卜。罩到用0jC一!c二：j、兰一．茧最。点i?n卟“卜盈‘一，，‘也砖驹t刮试j，主．捌试；善三々 生成．量路的蕊j筝：≥衙和皈醴j盘：征：￡：谢试：；事翦=皇”!， 兰键：剐：±二外焦F血阵驯，焙；j!毡舞，。；i{蠹、准确=r靠 一、 引言 髓青做电予技贰和计萍肌技卞韵：：：蔓气畏，若患保：西等i7I昀可靠胜幢埚．就必颁开发 法。 一种技术．红外焦平面阵列是信莹获龊j处理领域里主要器”之一， 二、红外焦平面硅CMOS信号处理电路简单工作原理 64x64元CMOS¨x 器件配套使明的数据处理芯片．用了玎三二々h抵洲器产生的一言号进行积分采_}葶．通三立行扫描 移应寄存器控制开启MOSFET开瓷薄州=相应开走管，逐行对红外掭测器的信号逆行积分、 放火和取掸．然后通过奇．髑刘j!猎侈t壹鲁存器的控制，将再象襄的采样数据串行输出。 三、测试技术研究 64×64单元C?,IOS MUX凄出电路采粥数字电路雨l模拟电路混合结构，