基于GGNMOS的ESD建模与仿真技术研究.pdfVIP

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
基于GGNMOS的ESD建模与仿真技术研究.pdf

第37卷第2期 压 电 与 声 光 Vo1.37NO.2 2015年O4月 PIEZOELECTRICS ACOUST0OPTICS Apr.2015 文章编号 :1004—2474(2015)02—0327—03 基于 GGNMOS的ESD建模与仿真技术研究 郭 鑫,唐晓莉,张怀武 (电子科技大学 电子薄膜与集成器件 国家重点实验室 ,四川 成都 610054) 摘 要 :随着微电子加工工艺技术 的发展 ,集成 电路对静 电越来越敏感 。设计合理有效的静 电放 电(ESD)保 护器件显得 日趋重要 。传统 的 “手动计算+流片验证”的设计方法费时耗力 。该文基于栅极接地 的NMOS(GGN— MOS)器件 ,以Sentaurus为仿真平 台,建立器件模型,根据 ESD防护能力的需求 ,计算 出GGNMOS的设计参数 ,设 计 出防护指标达到人体模型(HBM)4.5kV 的管子。结果表 明,该方法简单有效,能缩短设计周期,是防护器件设 计 的一种优秀方法 。 关键词 :栅极接地 的NM0s(GGNM0s);人体模型 (HBM);静电放 电(ESD);建模 ;仿真 中图分类号:TN406 文献标识码 :A TheESD M odelingandSimulationTechnologyResearchBasedon GGNM OS GUo Xin,TANG Xiaoli,ZHANG Huaiwu (StateKeyLab.ofElectronicThinFilmsandIntegratedDevices,UniversityofElectronicScienceandTechnologyofChina, Chengdu610054,China) Abstract:Withthedevelopmentofmicroelectronicsprocessingtechnology,integratedcircuitsareincreasingly sensitivetostaticelectricity.A reasonableandeffectivedesignofESD protectiondevicesseemsincreasinglyimpor— tant.Itistime-consumingandlabor-intensiveforthetraditionaldesignmethodwhich is “manualcalculationandta— peoutverification”.BasedonGGNMOSdevices,Sentaurussimulationplatform isuesdtoestablishthedevicemodel inthispaper.ConsideredtheneedsofESD protectioncapability,wecalculatethedesignparametersofGGNMOS, design8tubewhichprotectcapacitycanreach4.5kV fortheHBM .Theresultsshow thatthemethodissimpleand effective,cangreatlyshortenthedesigncycle,whichcanregardedasanexcellentmethodforprotectiondevice. Keywords:groundedgateNMOS(GGNMOS);humanbodymodel(HBM );electrostaticdischarge(ESD);mod— eling;simulation 0 引言 难计算出器件 的性能参数 ,另一方面是大量的流片 测试与验证耗时

文档评论(0)

月光般思恋 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档