基于相容类加权扩展相容性扫描树构造算法.pdfVIP

容错理{：仑5应用 FaultTolerant TheoryApplication 基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法 肖剑锋3，尤志强b，邝继顺3 (湖南大学 a．计算机与通信学院；b．软件学院，长沙410082) 摘要：扩展相容性扫描树技术通过添加逻辑非和异或函数扩展了扫描单元的相容性，并对相容的扫描单元 扫描移人相同的测试向量值，大大减少了测试应用时间。但此技术构造扫描树的输出过多，且存在进一步降低 测试应用时间的空间。提出了一种基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法和两条降低扫描输出个数的规 则，进一步降低了测试应用时间和扫描输出个数。此算法首先对被测电路相容性的好坏进行评定，然后利用对 相容类加权的方法，同时结合减少扫描输出个数的规则来控制异或结点数量，构造了新的扩展相容性扫描树， 最后对该扫描树进行了优化。实验结果表明，利用该算法构造的扫描树比原始扩展相容性扫描树的层数平均减 少85％，扫描输出个数平均减少30．4％，极大地降低了测试应用时间和硬件开销。 关键词：全扫描测试； 扫描树； 测试应用时间； 测试数据量 中图分类号：TP331 文献标识码： A 文章编号： 1003—353X(2007)增刊一0041—06 Extended ScanTree Construction Compatibilities Basedon WeightedCompatibleCliques XIAO Jian-fen91，YOUZhi—qian96，KUANGJi—shuns (口．School and School，Hunan ofComputerCommunication；b．Softzoa?e 410082，China) University，Changsha scan Abstract：Extended tree NOTandXORfunc— compatibilitiestechnique，employinglogic test time shi the tions，reduces sametestvaluestothe scan applicationdrasticallyby fting compatible this thenumberofscan isSO and flip—flops．However，intechnique outputslargerthereisstillsome roomtoreduce test time．Inordertoreducetest timeandthenumberofscan application application novelextended litiesscantree outputs，a