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第jo卷第2、3期 混合微电子技术 V。I lO N12·3
硼硅酸玻璃陶瓷基板材料的研究
电子科技大学邓宏姜斌扬邦朝恽正中王恩信
摘要本文以复台材料的复合效应作为设计低烧结温度、低介电系散基板材料的依据.通过
测试材料的电性能参数,用扫描电镜分析材料的结构,在接zo%~30%siO:时,获得了硼硅酸玻璃
3.
陶瓷系列,介电常数小于4.5(1MH。).损耗角正切小于4×lo
荚键词硼硅酸玻璃陶瓷基板
j.√j 、一j:-
上原因,开发低烧结温度、低介电系数和与硅
l前言
相匹配的热膨胀系数的基板材料就越来越受
随着微电子技术的发展,混合集成电路 到重视。低温共烧多层布线陶瓷基板,具有布
的封装密度越来越高,功能越来越多,并向部 线层数高、介电系数低、布线导体方阻小、热
件、子系统、系统的方向发展,即在一个基板 膨胀系数和硅器件匹配等优点。因此,近几年
或基片上贴装或埋入若干VLsI裸芯片和无国际上对它进行了深入和较全面的研究。低
源元件,形成具有一定功能的部件或系统。多 温共烧低介基板材料大致分为三类:(1)晶化
芯片组装(McM,MultichipM0dules)由于其
玻璃系;(2)玻璃一陶瓷系;(3)非玻璃系。本文
小型化、高密度、高可靠、多功能和高速化的
对硼硅酸玻璃陶瓷系的复合效应进行了研
优点而得到迅速的发展,已在计算机、通讯、
究。
军事,航天等领域得到了广泛的应用(如相控
阵雷达RT组件),引起各国政府和军方的极 2实验
大关注。由于集成度的提高,如何缩短电信号
在互连线上的延迟时问,已成为进~步提高 在硼硅酸玻璃(BSG)、高硅酸玻璃
电路工作速度的关键问题之一。其中,基板材 (HsG)及A120,的三元系中,在低Al。O。相
料的介电系数是影响电信号传输速度的重要 区具有很小介电系数,如图l所示。因此,我
嘲素,电信号在传输线上的延迟时问为Tpd。c们采取了低AI:O。相的系统设计。
e“2/c(c为光速)。此外,由于半导体集成电 将材料按配方比例混合.经充分研磨后.
路中芯片集成度的提高,芯片面积的增大,要
在高温炉中1350℃左右熔融,保温o.5小
求基板材料的线膨胀系数(n)应尽可能与单
时。取出在水中淬火,粉碎、球磨12小时,即
晶硅(n=2.33×10-‘/℃)相匹配。再者,高密
获得硼硅酸玻璃,编号为Dw一3。
度多层布线用的低电阻率导带材料(如Cu,
将Dw一3粉料与sD。按设计比例混合,
Ag,Au,Pd—Ag等)的烧成温度较低(
充分研磨,成型。在空气在烧结,烧成温度为
1000℃),所以基板的烧成温度不能高于
1000℃,便于将导带与基板一次烧成。基于以850‘C,保温一小时,自然降温后,取出样品。
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