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嵌入式计算机系统抗辐射加固的软件措施 张新 (CAEP电子工程研究所成都市517信箱11号610003) 摘要本文应用以往的辐射效应结果，给出电子系统上使用的嵌入式计算机系统的典型故 障特征．从所处理的数据对象入手。应用常规计算机容错技术。给出有效的软件加固设计 方法，即容错加固设计方法和系统恢复加固设计方法，主要给出提高系统剐健性的有效措 施，系统恢复技术只作了概念性的介绍．鞋辐射环境下计算机系统的薄弱环节一一数据存 储器为例进行了故障模拟．故障纠错／控错和故障恢复的模拟实验． 关键词计算机系统抗辐射加周容锚技术故障模型 1 引言 电子设备上使用的计算机系统超由微处理器芯片、外围接口芯片及其它逻辑控 制电路组成的嵌入式计算机系统。这种电子设备不再是一个单一纳硬件系统，丽是 一个包含软件设计技术的软硬件的混台体，是一个特定时间范围内的时间不可逆的 实时控制系统，容易受到由核爆炸产生的x射线、Y射线，中子、EIIP等引起的损伤。 为保证已采集的信号或已运算的结果不会因计算机系统的故障使数据丢失或出现错 误，从而造成控制精度的下降或更加严重的问题，因此，运行在核辐射环境下的计 算机系统，必须进行软硬件的加固设计． 要满足系统要求，使系统具有抗核辐射的能力，一方面从硬件着手，采用抗辐 射加固的器件和具有抗核加固的电路设计，另一方面可以从软件着手，采用加固软 件的设计．与硬件配台进一步提高系统加固性能和可靠性． 计算机系统抗辐射加固的软件设计牵涉两方面的技术。一是系统容错技术，二 是系统恢复技术。利用这些技术的软件加固措施不是一个纯粹的软件容错设计问题， 它应依据系统的辐射性能的研究结果，得出它的失效特征和判据，针对加固设计的 特殊要求。对热型的错误对象进行处理，在故障分析的基础上应用一般的容错技术 和数据恢复技术找出实用的解决措施。 }接新：嵌入式计算机系统抗辐射加固的软件措旖 2 辐射环境下计算机系统的故障 计算机系统的工作方式是在周期性脉冲的作用下，CPU从程序控制器ROM中读取 指令，在数据存储单元R埘读取、存放数据，应用外围接口芯片与外部进行数据交 换。在系统加电工作期间，在系统总线、芯片之间有大量的电信号涌动，有以电平 为基准的电平信号羊u依赖上升、下降沿的触发信号，系统正是通过对这些信号的处 理完成控制功能。由于组成系统的芯片为删0S／si工艺的半导体器件，而在核辐射 环境中的损伤效应必然会给操纵以电形式存在的数字信息的计算机系统带来故障。 2．1故障特征 在加电工作期间，系统可能遭受的核环境为：中子注量限0-8．彩x』舻cm2：总 v向，系统所受到的损伤可能有中子损伤、Y总剂量的损伤、Y剂量率的损伤和电磁 脉冲损伤”l。 · 中予损伤 中子辐射产生的位移效应对cMoS器件影响不大．计算机系统具有很 强的抗中予辐射的能力，可以不考虑中子损伤。 ● Y总剂量的损伤对CMOS／si工艺器件而言，y总剂量也会以引起器件损伤。 · y剂挝率的损伤通过近年来的研究工作表明：在高Y剂量率的环境中，处于加 电工作的计算机系统受到严重的干扰，已证明不能可靠的工作。失效特征有程 序存储器的地址跑飞，死机，甚至发生闭锁效应．从实验的结果可以看出．在 较低的Y女Ⅱ量率下，系统还能在跑飞、死机、闭锁情况下重新加电后继续工作， 通过采取一定的软硬件措施后，强闭锁的情况明显下降，多数转化为弱闭锁， 说明系统发生闭锁效应除由于CMOS工艺造成的硬件原因外，也有一定的软件因 素‘”。 盘 · 电磁脉冲损伤EMP通过耦合将电磁脉冲能量引入到计算机系统内部，产生的感 生电流使系统产生误动作和类似于闭锁效应的故障，一般在重新加电后，系统 叉能正常工作，当较高场强时会出现永久性故障。 综上所述，因为组成电子设备的器件在装配使用之前已经过加固设计和严格的 筛选工作，电