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垂直梯度凝固法LVGF)生长砷化镓
单晶的若干问题研究
谈惠祖杜立新赵福川莫培根
-中国科学院上海冶金研究所
摘要:垂直梯度凝固法(VGF)生长高质量砷化镓晶体是近几年出现的一种新
方法,与液封直拉法(LEC)和水平布里奇曼法(皿)比较,具有设备造
价低,容易实现程序控制,单晶棒无须滚园,利用率高,生长的单晶具
有较低的位错密度和较高的完整性、均匀性等优点,作为光电材料和
高速Ic用的材料,特别受到器件制造商的青睐,本文主要叙述了在国
产三温区中压炉上,运用VGF技术,生长GaAs单晶,并就生长甲的一
些问题进行研究探讨.
一、引言
技术的发展,LEC法将限制晶体内在质量进一步的提高,这是它固有的歃点
径向以及纵向都存着
造成的.因为LEC法生长GaAs单晶在生长界面的附近,
较大的温度梯度,一般在50。C一100。C/cm.因此内应力较大,随着尺寸的放大,
晶体的完整性、均匀性将会变得更差.而VCZ法…由于在热壁的环境下生长
,温度梯度较小,晶体完整性较好,但是炉子造价较高,生长工艺还存在一
些待解决的问题.布里奇曼法(I-{B)生长的晶体,由于它是舟生长,只能生长
D型片,且生长与切割方向不一致,故均匀性较差, 不适合Ic应用,而
VB、VGF法‘2113I,在生长时,固液界面温度梯度小,晶体完整性好,内应力
小,并且设备造价低,由于坩埚形状决定晶棒尺寸,不需要等径控制装置,
容易实现程序控制, 因而最近几年发展较快,美国AXT公司已工业化生长
其自身的弱点,无法观察固液界面,因此影响晶体生长未知因素较多如温
场控制、压力控制、引晶、B20,水份的控制、PBN坩埚内壁处理、脱坩埚问题
等等.本文主要就VGF生长中一些影响单晶生长问题,如引晶问题,B20,水
分的控制、PBN坩埚内壁的质量对晶体生长的影响进行研究,从而提高晶体
的成晶率.
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二、实验与结果
炉子结构以及炉温分布
在国产的VGF三温区炉上建立合适的温瘦场,进行VGF法GaAs单晶生
长,原料要用经合成的多晶料,炉内充压3arm,采用带籽晶槽的PBN坩埚,
单晶与PBN坩埚的外形.
图1 VGF三温区炉温实验装置和温度场分布
1、炉体2、加热体3、石墨坩埚托4、PNB坩埚5、B2036、熔体 7、籽晶8、电偶
照片1 VGF法生长的GaA.s单晶与PBN坩埚的外形
三、讨论影响成品率的几个因素
l、引晶(稳定的籽晶,熔融条件)
引晶成功与否是生长单晶的关键
~步,保证每次热场不变,确认籽晶不
被熔化, 这一点在实际操作中是很
容易做到的,但必须指出籽晶直径与
坩埚底部的内壁四周必须留有合适的缝
隙,这个缝隙大小能使B:0,液封剂非常容
易地流入,避免籽晶与坩埚内壁两者之
间的直接接触而形成异相成核,另一
方面阻止熔体渗入籽晶与坩埚的缝隙而
形成挛晶,如图2所示.
图2 籽晶直径与坩埚的关系
2、PBN坩埚内壁的质量的影响
VGF晶体生长是在坩娟进行的,PBN坩埚内壁的质量对成品有很大的影
度以及气相沉积的速率快慢都会在PBN坩埚内表面形成凹凸不平的粒子,从
而对晶体生长产生不良的影响,这些凹凸粒子在放肩部位,或在等径部泣,
由于B:O,覆盖不完全也是很容易形成异相成核而导致挛晶.
3、B203含水量对晶体生长的影响
造成了
B203与熔体覆盖不完全,而不完全的覆盖,刚熔体与-坩埚直接接触造成异相
成核而形成挛晶,而不脱水的B20s与PBN坩埚湿悃较好,但由于B203不脱水,
则在熔体的坩埚壁上形成较多汽泡,加上VGF生长熔体不搅拌,气泡不易浮
出,长出的晶体表面有麻坑,如照片2所示.因此国外一般都采用PBN坩埚热
氧化,在PBN坩埚表面形成lOgm左右的氧化层来解决坩埚内壁的湿润”1.我
们采用可控B:
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