时序电路测试生成新算法研究.pdfVIP

维普资讯 专题技术与工程应用 时序 电路测试生成新算法研究 黄玉玲 王 勇 (桂林电子科技大学 电子工程学院，广西 桂林 541004) 摘 要 为解决同步时序 电路的测试难题 ，提高时序 电路测试生成效率 ，进行了时序 电路测试生成算法的研究 ， 将粒子群优化算法应用在时序 电路 的测试生成中。为验证 PSO算法性能，首先将其用于函数优化 ，能获得较好的优 化结果 。之后建立 自动测试生成离散粒子群速度一位置模型 ，针对 国际标准时序 电路 的验证结果 表 明，与 同类算法 相 比。该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。 关键词 PSO算法 ；函数优化 ；惯性权重模型；自动测试生成 中图分类号 TN407 文献标识码 A 文章编号 1003—3106(2008)07—0049—04 StudyonNew Algorithm ofTestPatternGeneration forSequentialCircuits HUANG Yu．1ing，WANG Yong (SchoolofElectronicEngineering，GuilinUnivers ofElectronciTechnology，GuilinGuangxi541004，China) Abstract Inordertosolvethehardproblem oftestingforsynchronoussequentialcircuits，improvehtetestgenerationefficiencyof sequential circuits，htispaperstudieshte algorihtm of testpattern generation ofr sequential circuits．Thispaper appliesparticle SW~ITa optimization algorithm tohtetestgeneration ofsequential circuits．In ordertoconfirm htePSO perfomr ance，itisapplied tooptimizefunction firstly．Th eresultshowshtathtealgorithm iseffective，htenhtespeed-positionmodelofdiscreteparticlesw~cllloptimizationforautomatictest generationismade．Theexperimental resultsofrbenchmrakcircuitsshowhtathteproposedalgorihtm Cna achievehigherfaultcoveragenadmore compacttestsetswhencompraedtoohtersimilra testgenerationalgorithms． Keywords PSO algorihtm；function optimization；inertiaweightmodel；automatictestpattern generation 值 ，并且知道 自己到 目前为止发现 的最好位置 0 引言 (Particlebest，pbest)、现在的位置以及整个群体 中所 有粒子发现的最好位置 (gbest)(gbest是在pbest中的 美国的Kennedy博士和 Eberhart博士受鸟群觅 食行为的启发 ，于