X射线荧光光谱法快速测定铜矿石中的造岩元素.pdfVIP

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2015-08-15 发布于安徽
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X射线荧光光谱法快速测定铜矿石中的造岩元素.pdf

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甘肃省化学会；g--_十七届年会暨第九届甘肃省中学化学教学经验交流会论文摘要集 2结果与讨论 2．1谱线重叠干扰和基体校正本方法使用理学公司软件提供的校正曲线和基体校准一体的回归方法。所用的数学公式为： (1) 彤=(a，，+t∥，+曲+d)(1+_0+．尉移动+三B萨弓+C；式(1)中：％——标准样品中分析元素i的标准值或未知样品中分析元素f基体校正后的含量，卜待测元素荧光净强度或内标比强度，a、b、c、d-诎准曲线系数，厨、c，埘正系数，彳扩—甚体校正系数，Br—-谱线重叠干扰校正系数，耳—珙存元素的分析值或X射线强度[31。具体到实际被测元素谱线重叠干扰和基体校正项的选择，一定要通过优化测量条件来确定谱线重叠元素，通过校准计算公式计算结果来确定基体与校正元素。 2．2精密度用5．04重复制备12个样片，按表l条件进行测试，计算精密度(表3)。从表3可知，各组分相对标准偏差(RSD)均小于10％，说明本方法制样的重现性良好。 2．3准确度测定，计算平均值，准确度分析试验表明绝大部分结果与标准值基本相符。表3精密度试验结果(W(B)／IO五) 组分标准值平均值 RSD％组分标准值平均值 RSD％ Na200．14 0．16 5．61 K200．060 0．048 7．55 MgO23．48 23．52 1．95 CaO0．67 0．56 3．87 O．97 0．86 3．06 23．13 24．00 O．98 A1203 Fe203 si02 24．77 25．44 6．14 3结论利用新一代X射线荧光光谱仪功率大、性能好、分析速度快、精度高的特点，通过选择合适的工作条件，对铜矿石中的基体造岩组分实现快速准确测试，结果虽然达不到岩石成分的化学要求，但完全满足多目标相关规定，对铜矿石的了解、选冶有十分重要的指导意义。参考文献【l】岩石矿物分析编写组．岩石矿物分析(第一分册)【M】．第三版，北京．地质出版社．1991． 0 【2】DZ／T130—54—63—2006，中华人民共和国地质矿产行业标准【S】．【3】梁述廷，刘玉纯，胡浩，等．岩矿测试，2004，24(2)：102．．218． X射线荧光光谱法快速测定铜矿石中的造岩元素作者：刘江斌，党亮作者单位：国土资源部兰州矿产资源监督检验中心,兰州,730050 引用本文格式：刘江斌.党亮 X射线荧光光谱法快速测定铜矿石中的造岩元素 [会议论文] 2011