表面等离子体共振显微术的空间分辨力.pdfVIP

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2015-08-18 发布于未知
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表面等离子体共振显微术的空间分辨力.pdf

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光电工程

维普资讯第 29卷第4期光电工程 Vo1 ． 29，No．4 2002年 8月 - Ele to ctronic Engineerin Aug，2002 — — — — — — — — 文章编号：1003．501X (2002)04—0032—03 表面等离子体共振显微术的空间分辨力吕强，汪国平 (武汉大学物理系，湖北武汉 430072) 摘要：对基于相位探测的干涉型表面等离子体显微术 (SPIM)和基于强度探测的常规表面等离子体显微术 (SPM)的空间分辨力进行了较系统的理论研究和比较，结果表明SPIM具有较高的空间分辨力。在给定的条件下，SPIM的最大纵向分辨力为 0．212pm，是 SPM的 2．15倍。而在纵向分辨力都为 2pm的条件下，SPIM的横向分辨力为2．17LLm，是 SPM的 2倍。关键词：表面等离子体；干涉显微术；空间分辨力中图分类号：0534 文献标识码：A Spatialresolutionofsurfaceplasmoninterferencemicroscopy LIJQiang，WANGGuo-ping (DepartmentofPhysics,WuhanUniversity,Wuhan430072，China) Abstract：Thespatialresolvingpowerofthesurfaceplasmoninterferencemicroscopy(SPIM)basedon phasedetectionandconventionalsurfaceplasmonmicroscopy (SPM)basedonintensitydetectionis systematicallystudiedintheoryandcompared．Theresultsshow thatSPIM hasahigherspatialresolving powe~Underthegivenconditions，themaximum longitudinalresolvingpowerofSPIM isO．212pm na d correspondstO 2．15 timesthatofSPM ．W hen the longitudinalspatialresolvingpowerofhteboht techniquesrae2pm，thelateralresolvingpowerofSPIM is2．171．tm andcorrespondstO2timesthatof SPM ． Keywords：Surfaceplasmons： Interferencemicroscopy：Spaceresolution ．表面等离子体显微术 (SPM)以其成像对比度高、可实时监测、抗电磁干扰等优点而获得广泛‘应用 ¨。基于 SPR条件下反射光相位变化的干涉型SPM瞠。。“(称作 SPIM)