对电快速瞬变脉冲群测试可重复性的分析.pdfVIP

第26卷增刊 电波科学学报 V01．26，Sup 2011牟6月 CHINESEJOURNALOFRADl0SCIENCE June，2011 对电快速瞬变脉冲群测试可重复性的分析 柴竹青胡振兴高攸纲 (北京邮电大学电子工程学院，北京100876) 摘要EFT(电快速瞬变脉冲群)抗扰度试验作为EMC(电磁兼容)试验中的一个重 要组成部分己经有20年的历史。虽然国际上已经有了相关的IC(集成电路)级E兀’测试 标准，但是仍然存在着测试结果不一致的问题。为了分析此问题，采用德国朗格公司的 E丌测试设备进行实验，利用实验结果对该问题进行分析。 关键词 电磁兼容；电快速瞬变脉冲群；可重复性 1．引 言 3．EFT测试结果的不一致问题 随着：i：业控制自动化和智能化程度的提高，大 在EFT测试中经常会发现这样的问题，同样型 规模集成电路应用越来越广泛，与此同时电磁干扰 号芯片在多次测试中的测试结果不一致，且结果出 现象也越来越突出，电子设备和器件的可靠性与安 入很大【4f。在测试中存在的变量一般为两个，一是 全性问题日益严重。电磁干扰不仅影响电子设备本 电快速瞬变脉冲群注入芯片的随机性，二是芯片之 身正常运行，还影响周边设备的正常：1：作，严重时 间的差别，虽然是同一型号的芯片，但是彼此之间 甚至造成电子设备的损坏，在一定的条件F甚至会 仍然存在着微小的差异。通过分组实验将测试这两 对人员造成影响和危害，引发重大事故…。集成电 个变量的影响大小。实验的分组情况如表l： 路和晶体管人部分属于微功耗、微型结构器件，它 本身承受电磁干扰的能力就很差。而且电子产品市 表1实验中变量的组合方式 场向高数据吞吐量和信号速度发展的趋势更使这 实验分组 实验条件 本已复杂的问题雪上加霜12]。EFT(电快速瞬变脉 冲群)就是这类设备与元器件可靠性与安全性的重 蝴嚣翟警耻黼枞酐T 要威胁之一。 实验2 1号芯片随机注入EFT，重复3次 2．EFT概述 煳苏=篙繁蚜瀚 实践发现，产生EFT问题的最主要的原冈 是，干扰电流的主要部分会流入低阻抗的电源系 实验l和实验2确定了其中一个变量即芯片之 统。干扰电流能通过直接的连接进入接地系统， 间的差异，如果实验l的实验结果一致，而实验2的 再由线路连接，从另外一个地方耦合出来，或者 实验结果不一致，则证明EFT注入的时间点对EFT 干扰电流进入接地系统后，通过和金属块(例如机 测试有影响，如果实验l的结果不一致而实验2的结 箱)等物体的容性耦合方式，以电场的方式(场束) 果一致，或者实验1的结果一致且实验2的结果一 耦合出来。在电源系统上流动的干扰电流，产生 致，又或实验l和实验2的结果都不一致，则证明E兀 的很强的宽频谱电磁场，能干扰其周围儿厘米范 信号随机时间的注入性对测试结果不会产生影响。 嗣内的集成电路或者信号线，如果敏感的信号线 实验3确定了另一个变量即E兀信号注入的随机性。 或者器件，例如复位信号、片选信号、晶体等， 如果实验结果一致，则证明芯片之间的差异可以忽 正好放置在干扰电流路径周围，系统就可能由此 略，如果实验结果不一致，则证明芯片之间的