低频力学谱仪在高Tc超导体磁通钉扎研究中的应用.pdfVIP

第 卷 第 期 低 温 物 理 学 报 27 5 VOl.27 NO.5 年 月 CHINESE JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS 2005 11 NOv. 2005 低频力学谱仪在高 超导体磁通钉扎 T c 研究中的应用 ! 沈中城1 2 陈小平3 1苏州市职业大学 苏州苏福路 215009 2 中国科学院国际材料物理中心 沈阳 110016 3苏州大学电子信息学院 苏州干将路 215006 本文扼要介绍了我们研制成功的低频力学谱测试系统的原理与结构 并指出 力学谱 能揭示材料的结构和缺陷的特征 能对材料的力.电.磁.光及其它性能进行 深入探测 给出有益启示 该仪器对力学耗散谱最小分辨率达. 10-5 测量的最低频率达 10-3 本文着重讨论高 超导体磁通钉扎与力学谱的关系 在 以下 绝大部分已测得的力 HZ. TC T 学谱峰 都属于滞弹性弛豫峰 由被钉扎的磁通线 由热激活而运动 而真正用低频力学谱仪 测量在 以下高 超导体 . TC T C 力学谱实验尚未见报道 等在非孪生单晶的 试样 及其 .D.E.Farrell YBa Cu O T 90K 2 3 7- C 以上 使用扭摆磁量计来测量 在 以下扭动振荡频率 -1 和磁场 特情况 TC 1.1 10 HZ 2.3 下 峰温TP 85K 左右 但是这个实验结果所得出的峰温和频率的关系与相变峰的规律有. 矛盾 在 附近的力学谱峰的机理是有争议的 有待实验进一步证实 本文还探讨磁通钉扎 . TC . 与临界电流的关系. 关键词 低频力学谱仪 高 超导体 磁通钉扎 临界电流密度 T C 1 引 言 自从高温超导体发现以来 各种测试手段 如扫描燧道电镜 .原子力显微镜 STM .扫描霍尔探针和超导量子干涉器件 等都用来研究高 超导体混合态的 AFM SGUID Tc 磁通线的本质.同时 国内外学者用超声方法和振动簧 技术来探测由于磁通线被钉扎 而引起的力学耗散现象 而且认识到材料的弹性系数改变 力学特性异常与超导电性有一定 [ ] 1 3 8 的关系. 但用低频力学谱仪 来 研究高临界温度超导体的实验甚少 国内该类仪器大部分为八十年代产品 计算机的控制软 件和电控系统都已老化.2004年我们研制成功新一代的低频力学谱测试系统 已被中科院 固体物理所.上海交通大学材料科学与工程学院等采用.LMA-1 型低频力学谱测试系统由 奔 计算机在 / 操作系统支持下 应用虚拟仪器技术来控制测量过程并 IV WindOWs 98 2000 进行数据处理 能精确测量小内耗 内耗测量值精确到 -5 精确测量频率达到 -3 . 3 10 10 . 收稿日期 2005-04-05 850 低 温 物 理 学 报 27卷 2 LMA-1型低频力学谱仪 力学弛豫引起内耗9研究内耗可以查知弛豫过程9并揭示弛豫的动力学过程和微观机 制 内耗实质上是由于内部的原因而引起的能量消耗9是由于非弹性形变而将机械振动能耗. 散为热能 所以每个内耗峰相当于一条机械振动能量吸收谱线9就如同光谱学的吸收谱线9 . 内耗谱可称为力学谱9把内耗谱与材料的结构与缺陷状态结合起来研究9将是一门新的学科 领域. 它的主要部件有C倒扭摆\光源\光电转换器\真空系统\电源与自动控制柜\计算机\加 热和致冷系统. 图 低频力学谱仪测量原理框图 1 主要技术指标C频率范围C 0.001HZ＜ f ;温度范围C ;应变 ＜ 10HZ 200K＜T ＜ 600K 振幅C -5 -2 ;内耗C自由衰减模式 10 ＜E＜ 10 2 10-5 ＜C -1 ;强迫振动模式 2 10-4 ＜ ;模量分辨率C -4 ;试样尺寸C一般 t $＜ 10 g 直径 1mm 2.5mm9长度 50mm. 高 材料的力学谱研究 3 T C 力学谱技术 指超声衰减\振动簧和低 图2 LMA-1型低频力学谱仪 频扭摆 正是探测高T C 超导体磁通线被钉 扎而引起力学耗散的最灵敏的测试手段 自从. 1986年高 超导体被发现以来对高 超导 T T C C 体做了大量的力学谱测试工作和相关理论研究 对于研究高. T C 超导体的超导机理和力学特 性起了很大推动作用 椐不完全统计9国内外发表的文献有几百篇. . 超声衰减方法 高频力学谱实验方法 C [ ]等指出C 超导体 M. Saint -Paul 4 YBa Cu O 2 3 7- 弹性性质与超导电性不可分离 在外加磁场作用超声衰减系数与声速都会发生 突变9这一. - 现象与三方面有关;晶格畸变\超导转变和磁场效应 概括地说C热激活磁通流线粘滞性造成. 在T C 以下