熔融制样-X射线荧光光谱法测定铁水预处理脱硅消泡剂中主次成分.pdfVIP

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熔融制样-X射线荧光光谱法测定铁水预处理脱硅消泡剂中主次成分.pdf

冶金分析 ,2O15,35(1):5O一54 M etallurgicalAnalysis,2015,35(1):50—54 熔融制样一X射线荧光光谱法测定铁水预 处理脱硅消泡剂中主次成分 郭云涛,刘 伟 ,戴学谦 (山西太钢不锈钢股份有 限公司技术 中心 ,山西太原 030003) 摘 要:消泡剂采用四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[ (LiBO):Ⅲ(LIB()。)一67:331,稀释 比为 1:1O,滴加 5滴200g/I溴化铵溶液做脱模剂,在 950℃下熔融 18min制备熔片。采用 石灰石标准样品 中添加基准碳酸钠 的合成校准样品来绘制校准 曲线 ,建立了X射线荧光光谱 法 (XRF)对铁水预处理脱硅消泡剂 中二氧化硅 、三氧化二铝、氧化钙 、氧化镁、三氧化二铁和氧 化钠等主次成分进行 同时测定的方法。将烧 失量作为消去组分处理,使用 COIA模 式校正 , 校正后的曲线能够准确测定未灼烧样品中主次成分的含量,大大缩短 了分析时间。经验证 ,各 组分测定结果的相对标准偏差 (r/一11)都在 2 以内,消泡剂实际样品的分析结果与化学法分 析结果吻合较好 。 关键词 :消泡剂;X射线荧光光谱法;熔融制样;烧失量校正;主次成分 文献标志码 :A 文章编号 :1000—7571(2O15)01-005005 在铁水预处理脱硅过程 中往往伴 随着脱碳反 法。经过基体校正和烧失量校正后 ,该方法的准确 应 ,产生的 CO气体呈弥散状分散进入熔渣 内,使熔 性和精密度均能满足冶金行业对原料消泡剂的快速 渣的体积膨胀 ,形成 了类似蜂 窝结构的泡沫渣 。生 检测需要 。 产 中通过加入消泡剂可提高熔渣 的碱度 ,降低熔渣 1 实验部分 的粘度和表面张力 ,使得气泡更快排 出,同时消泡剂 中主要成分 CaO 与脱硅渣快速反应生成稳 定 的 1.1 主要仪器和试剂 Ca()·SiO。,有利于脱硅效率的提高 J。 ARIADVANT’XSeries型 x射线荧光光谱 常用的检测消泡剂 的方法是按照 国标 (GB/T 仪 (美国赛默飞世尔公司),主要分析条件见表 1; 3286—1998石灰石、白云石化学分析方法)测定硅 TNRY一01A 自动熔样机 (洛阳特耐实验设备有 限公 铝钙镁铁 ]和国标 (GB/T6901.9 2004硅质耐火 司);铂金坩埚 (95 Pt+ 50oAu);熔样机标配二耳 材料化学分析方法第 9部分 :火焰原子吸收光谱法 坩埚,规格为上端 内径 58mm,下端内径 37mm,高 测定氧化钾、氧化钠量)测定钠 【],样 品分析周期在 25m m 。 3天左右,并且试样前处理步骤繁琐 、分析成本高。 混合熔齐0[ (Li2B4O): (LiB()2)一67:331 随着生产量的不断提高,原料需求量也越来越大,传 (洛阳特耐实验设备有限公司):650℃灼烧 1h;溴化 统的分析方法 已经不能满足生产检验的需求 ,因此 , 铵溶液 :200g/L;溴化锂溶液:200g/I;基准碳酸钠; 开发更加快速的分析方法 已成为一种趋势。x射线 石灰 石 标 准 样 品 (武 钢 钢 研 所 ):BH0120—3W、 荧光光谱法 (XRF)具有一次熔 片、同时测定多种元 BH0120—3Wa、BH0120—4W 、BH012O一5W a、BH0120 素的特点 ],分析速度大大提高 ,并已经广泛应用于 6W 。 各行业产品和原料 的分析检验中 j。本方法采用 1.2 试样制备 熔融法制样 ,建立 了快速测定消泡剂 中多种成分

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