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第十二届全国固体薄膜学术会议 南宁2010
n-ZnO/i—MgZnO/n.GaN异质结电致紫外发光
李颂战方国家龙浩黄辉晖莫小明于皓宁赵兴中
武汉大学物理科学与技术学院,湖北武汉430072
摘要:采片:j射频磁摔溅射技术制备了结构简单的n-ZnO/n.GaN同型异质结紫外发光_二极管。在此基
V,根据能
的紫外电致发光性能。发光峰位于368nm附近,半岛宽约7nm,器件的闽值电压是3.0
带结构理论研究了器件的电致发光机制。
关键词:ZnO;同型异质结;紫外;电致发光
1.引言
紫外发光二极管存诸多方面拥有f。分重要的应用,如固态光源、紫外光刻、高密度数据存储、生
物医学分析掣11。近年来,关于P.n异质结紫外发光二极管已有诸多报道,其中涉及多种p型材州Ml,
电阻率且性质稳定、质量高的P型材料仍存在较大的困难【5】。然而,高质量的n型材料却是很容易获得
的,这就为n.nI一型异质结发光二极管的研制提供了材料基础。在众多的n型材料中,n型GaN在发光_二
极管应用方面十分具有竞争力,具有高载流子迁移率的n型GaN很容易实现,在T业生产中已经得到
广泛的使用。而ZnO因其宽禁带和高激子结合能等优点也吸引了众多研究者的目光。然而关于
薄膜之间插入一层MgZnO用于阻挡电子,强烈的紫外发射从这些同型异质结器件中观测到。本文研究
Tn.ZnO/i.MgZnO/n.GaN发光二极管的电致发光特性,特别是对异质结发光二极管的紫外电致发光
的机制进行了讨论。
2.实验方法
Qcm。n
商业化的牛长在篮宅石基片上的n型GaN作为衬底,n型GaN的电阻率是1.67x10-2
型ZnO薄膜是使用ZnO陶瓷靶采用射频磁控溅射法在氩气和氧气的混合气氛中制备,衬底温度为
nl/l。
300。C。MgZnO薄膜是通过反应磁控溅射方法在衬底温度300。C的条件下沉积的,其厚度大约40
最后采用直流磁控溅射法将Ag电极沉积在ZnO层上,ln沉积在GaN层上作为另一个电极。异质
4200.SCS型半导体特性分析系统测最。器件的电致发光特性
结二极管的伏安(1-Ⅵ特性采用Keithley
nm。
是使用Acton 2500i光栅光谱仪在室温条件下测量的,测量步长为0.1
SpectraPro
3.结果与讨论
nmo
lira。最后用直流磁控溅
构的,其结晶质量高并具有高度的c轴择优取向。MgZnO薄膜厚度大约40
射法在ZnO层上沉积Ag电极,IIl沉积在GaN层卜作为另一个电极。
图l中n-ZnO/i.MgZnO/n.GaN异质结二极管的伏安特性曲线显示是典型的背靠背二极管特
成两个背靠背肖特基二极管的串联。图1左上角的插图是电极接触特性曲线。Ag与n型ZnO、In
与n型GaN的接触特性曲线都是线性的,表明它们之间足欧姆接触,从而说明了器件的伏安特性反
映的是r1.n结的整流行为。
膏宁2010
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