聚合物熔体在模内的流动行为.pdf

聚合物熔体在模内的流动行为 一、端末效应 什么是端末效应？ 注射成型时，聚合物熔体经常需要通过截面大小不同 的浇口和流道，当熔体经过流道截面变化的部位时，将会 因界面的影响发生弹性收敛或膨胀运动，这些运动统称为 端末效应。 端末效应对于制件质量的危害： 可导致制件变形扭曲、尺寸不稳定、内应力过大和力 学性能降低等。 端末效应种类：入口效应和离模膨胀效应。 1．入口效应 什么是入口效应？ 聚合物熔体在管道入口端因出现收敛流动，使压力降 突然增大的现象。 图2—23。熔体从 大直径管道进入小直径 管道，需经一定距离Le 后方能稳态流动。 Le，入口效应区长 度，不同的聚合物和不 同直径的管道，入口效 Le 应区长度不相同。 ／ D，表征产生入口效应 范围的大小。 L 实验证明，在层流条件下，对牛顿型流体， 约为 e 0 05DR L 0 03 ． ；对非牛顿型的假塑性流体， 在 ． ～ e e 0 05DR R ． 的范围内， 为雷诺数。 e e 入口区压力降突增的原因： ①聚合物以收敛方式进入小直径管时，为保持体积流 率不变，如果管壁处的流速仍保持为零就只有增大熔体内 的速度梯度，才能满足调整流速的要求，为此只有消耗适 当的能量才能增大速度梯度，加之随流速的增大，流动的 动能也相应增大，这也使能量的消耗增多； ②熔体内的剪切速率增大，迫使聚合物大分子更大和 更快的变形，而这种具有高弹性特征的形变，需克服分子 内和分子间的作用力，也要消耗一定的能量。 考虑流体入口效应后压力降的计算： 将入口端的额外压力降看成是一段 相当长度管道所引起“ ” eR “ ” 的压力降。若用 表示这个 相当长度 ，即将有入口效应 L 时熔体流过长度为 的管道的压力降，当作没有入口效应 时熔体需流过(L+eR)长度的压力降。 “ ” 用 相当长度 修正后的圆截面管管壁处的切应力若为 τ ，τ 与修正前同一处的切应力τ 之间有如下关系’ ’ R R