X射线荧光光谱法测黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷.doc

X射线荧光光谱法测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷 应晓浒曹国洲孙立群（宁波出入境检验检疫局，宁波，315012） 摘要 采用波长色散X射线荧光光谱仪测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷。对α影响系数进行基体效应校正。 采用本法测量结果与相。关键词 X，：A 黄铜元素分析的国家标准为GB/T5121《铜及铜合金化学分析方法》[1]，其中铜采用电解-原子吸收光谱法铅采用原子吸收光谱法铋富集后采用原子吸收光谱法铁、锑、磷、砷采用分光光度法。上述方法存在操作复杂、分析时间长、不能多元素同时分析等缺点。 X射线荧光光谱分析技术具有较好的测量精密度，已有分析人员将该技术应用于青铜中铜、铅、锡等元素的分析[2,3]。对α影响系数进行基体效应校正，获得了较好的结果。 1 实验方法 .1 仪器及测量条件 SRS3400型顺序式X射线荧光光谱仪,铑靶X光管,功率4kW，德国Bruker公司制造，测量条件见表1。 表1 X射线荧光光谱仪的测量条件30 Pb Lβ LiF200 28.223 27.590 60/67 0.15 45~115 50~150 30 Fe Kα LiF200 57.505 56.244 60/67 0.15 31~128 50~150 30 Bi Lα LiF220 47.315 46.881 60/67 0.15 86~120 81~123 60 Sb Kα LiF200 13.402 12.978 60/67 0.15 / 55~134 60 P Kα Ge 141.138 137.541 30/135 0.46 66~123 / 30 As Kβ LiF200 30.419 29.592 60/67 0.15 79~113 44~136 30 1.2 试的制备 μm。校准样品和待测样品采用同样的加工方法，试样表面加工完毕立即测量。 1.3 测量 按所定的测量条件测定5个以上普通黄铜和加砷黄铜标准样品的X射线荧光强度按公式1进行回归，求出校准曲线的斜率、截距和谱线重叠校正系数，用随机分析软件SpectraPlus中的理论α影响系数法进行基体效应校正。 Ci=×（Ii+βij×Ik）×（1＋∑αij×Cj）＋b ……（1） 式中Ci、Cj ：测量元素和影响元素的浓度 S、b ：校准曲线的斜率和截距 Ii ：测量元素的X射线荧光强度βij ：谱线重叠校正系数 Ik ：重叠谱线的理论计算强度 αij ：影响元素对测量元素的理论α影响系数 结果.1 试的影响 2.1.1 不同牌号金相砂纸研磨JIS H1292《铜及铜合金的X射线荧光分析方法》[5]中要求试样的X射线照射面须加工至表面粗糙度小于JIS B0601规定的轮廓最大高度（Ry）6.3μm。 精车、精铣、精刨或金相砂纸研磨等方法都可以把试样加工至表面粗糙度小于Ry6.3μm。对金相砂纸研磨方法进行试验表是同一个试样经不同牌号金相砂纸研磨后分析结果的比较，从表中可以看出，不同牌号金相砂纸研磨对磷的影响很大，随着砂纸变细，试样的表面越平整，磷的分析结果越高，抛光后的试样的分析结果比120号砂纸研磨的结果高近1倍，同时，铜的分析结果也在变，虽然相对偏差较小，但由于铜是主量元素，绝对偏差也有约0.1％。表面粗糙度小于Ry6.3μm表面粗糙度小于因此要求校准样品和待测样品采用同样的加工方法，如采用金相砂纸研磨来加工试样表面，要求使用同一牌号的砂纸，表 同一个试样经不同牌号金相砂纸研磨后分析结果的比较（％） 金相砂纸牌号 Cu Pb Fe Bi Sb P As 120 70.57 0.13 0.18 0.0066 0.021 0.021 0.093 150 70.48 0.13 0.18 0.0063 0.020 0.020 0.093 180 70.56 0.13 0.18 0.0059 0.020 0.021 0.090 400 70.66 0.13 0.18 0.0062 0.020 0.021 0.093 600 70.70 0.13 0.18 0.0063 0.020 0.036 0.096 800 70.65 0.13 0.18 0.0082 0.020 0.035 0.098 抛光 70.69 0.13 0.18 0.0075 0.021 0.040 0.093 2.1.2 试样在空气中放置后对测量结果的影响 试样在空气中放置1个月后，发现试样的表面发暗。表是2块黄铜试样加工完立即测量和放1个月后测量的分析结果的比较，试样在空气中放置1个月后测量，铜的分析结果偏低，同时，试样表面状态的变化对磷的分析结果也有很大影响要求测量试样的新鲜表面。 表 2块黄铜试样加工完立即测量和放1个月后测量的分析结果的比较（％） 元素 Cu