材料与化学化工学院X射线衍射课件(2007.8.20).ppt

HKL 辐射 θ/（°） a/nm 331 Ka1 Ka2 55.486 55.695 0.407463 0.407459 0.36057 0.35565 420 Ka1 Ka2 57.714 57.942 0.407463 0.407458 0.31037 0.30550 422 Ka1 Ka2 67.763 68.102 0.407663 0.407686 0.13791 0.13340 333 511 Ka1 Ka2 78.963 79.721 0.407776 0.407776 0.03197 0.02762 用最小二乘方法求得铝的点阵参数精确值(周 玉) 标准物质:Ag、Si、SiO2等稳定的物质，其点阵参数业 经高一级的方法精心测定过，如纯度为99.999%的Ag粉， a=0.408613nm；99%的硅粉，a=0.543075nm，其点阵参数 值可作为标准数据； 校正方法：标准物质掺入待测样品中，在衍射图谱上 将同时出现标准物质和待测样品的衍射线，计算标准物 质某根衍射线的理论θ值与衍射图谱中该衍射线的实测 θ值之差，进行校正。 标准样校正法 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （1）基本概念 内应力：产生应力的各种外部因素去除后，由于形变、体积 变化不均匀而存留在物体内部并保持平衡的应力。分为： ①宏观应力（δⅠ）：在物体中较大范围内存在并保持平衡 的应力。宏观应力引起衍射线向单一方向位移。 宏观应力的产生 a)焊接前；b)焊接后 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （1）基本概念 ②微观应力（δⅡ） ：在物体中一个或若干个晶粒范围内存在 并保持 平衡的应力。微观应力引起衍射线向不同方向位移， 同时使衍射线漫射宽化。 ③超微观应力（δⅢ） ：在物体中若干个原子范围内存在并保 持平衡的应力，一般在位错、晶界及相界等附近。超微观应力衍 射线强度降低。 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （2）测定基本原理 宏观应力在物体中较大范围内均匀分布产生的均匀应变表现 为该范围内方位相同的各晶粒中同名（HKL）面晶面间距变化相 同，并从而导致了衍射线向某方向位移（2θ角的变化）。 宏观应力与不同方位同族晶面面间距的关系 宏观应力测定公式： δφ=KM 式中：K为应力常数； M=△2θφψ/△sin2ψ （即M为2θφψ - sin2ψ直线的斜率 ）。 2θφψ - sin2ψ之间的关系 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （3）测定方法 固定ψ法：通过衍射几何条 件的设置直接确定和改变衍 射面ψ方位的方法。适用于 尺寸较小的试样。 固定ψ法 a) ψ =0°;b) ψ =45° 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （3）测定方法 固定ψ0法（0°-45°法）： ψ或ψ0选取0°和45°两个 点进行测定，由两个数据点 求得2θφψ — sin2ψ直线 的斜率M。 固定ψ0法 a) ψ =0°;b) ψ =45° 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （3）测定方法 固定ψ0法（sin2ψ法）： 选取几个ψ方位进行测量 （一般＞4个），然后用最 小二乘方的原则求出2θφψ - sin2ψ直线的最佳斜率M。 固定ψ法—sin2ψ法 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （4）测定应注意的问题 峰位的准确测定 应力常数K的确定 衍射面的选定 试样的状态 该索引将已经测定的所有物质的三条最强线的d1值从大到小按顺序分组排列。每组内则按次强线的面间距d2减小顺序排列。 考虑到影响强度的因素比较复杂，为了减少因强度测量差异而带来的查找困难，索引中将每种物质列出三次，一次将三强线以d1d2d3的顺序列出，然后又在索引书的其他地方以d2d3d1和d3d1d2的顺序再次列出。 每条索引包括物质的三强线的d和I/I1、化学式、名称及卡片的顺序号。 例如在索引书中可以查到： 2.28 1.50 1.78 100 100 70 CsBi(NO2)6 Cesium Bismuth Nitrite 2-1129 Hanawalt数字索引 七、X射线衍射分析的应用 1．物相定性分析 （3）基本过程步骤 ①获得衍射花样，测定和计算每根条衍射线的面间距和相对强度值I/I1(I1为最强线的强度) 。 ②从前反射区选取强度最大的三条衍射线，并使其d值按强度递减的次序排列，又将其余线条的值按强度递减顺序列于三强线之后。 ③从Hanawalt索引中找到对应的d1（最强线的面间距组。 ④按次强线的面间距d2找到接近的几行