TS16949實验室手册--MSA测量系统分析工作内容及步骤.doc

TS16949实验室手册--MSA测量系统分析工作内容及步骤 7.7.1 测量系统分析前的准备7.7.1.1 先计划将要使用的方法。如均值和极差法等。7.7.1.2 确定评价人、评价的样品数量及重复读数次数。7.7.1.3 进行评定时对评价人的选择应从从事该仪器的人中选定。7.7.1.4 样品必须从过程中选取并能代表其整个工作范围。因为每个零件将被测量若干次，因此必须对每个零件编号以便于识别。7.7.1.5 仪器的分辨力应允许至少直接读取特性的预期过程变差的十分一。例如：如果特性的变差为0.001，仪器应能读取0.0001的变化。7.7.1.6确保测量方法（即评价人和仪器）在按照规定的测量步骤测量特性尺寸。a. 测量应按照随机顺序，以确保整个分析过程中产生的任何漂移或变化将随机分布。b. 评价人不应知道正在检查零件的编号，以避免可能的偏倚。但是，进行分析的人应知道正在检查哪一零件，并相应记录下数据，即评价人A，零件1，第一次试验；评价人B，零件4，第二次试验等。c. 在设备读数中，读数应估计到可得到的最接近的数字。如果可能，读数应取至最小刻度的一半。d. 分析工作应由质保部及各单位的技术人员进行。e. 每位评价人应采用相同方法及步骤来获得读数。7.7.2 评价测量系统时,需要确定的三个基本问题。7.7.2.1 需要评价的测量系统有无足够的分辨力;7.7.2.2 需要评价测量系统在一定时间内是否在统计上保持一致;7.2.3 这些统计性能在预期限范围内是否一致,并且用于过程分析或控制是否可接受。7.7.3 测量系统存在的误差7.7.3.1测量系统的误差的类型有以下五种：a.偏移 b.重复性 c.再现性 d.稳定性 e.线性示意图： 图 偏倚 图 重复性图 再现性 图 稳定性图 线性1 图 线性2(变化的线性偏倚) 7.7.3.2偏移引起的变差a. 为了在过程范围内指定的位置确定测量系统的偏倚，就必须得到一个可接收的基准值。b. 基准值可以通过对一个基准件进行精密测量得到。c. 让评价人用正被评价的量具测量同一零件至小10次。d. 计算读数的平均值。从而得到偏倚（基准值与平均值之间的差值就表示测量系统的偏倚）。e. 再计算偏倚占过程变差（或容差）的百分比，即[偏倚/过程变差(容差)]×100 7.7.3.3重复性引起的变差a.重复性误差一般是由仪器自身及零件在仪器中位置变化的测量变差。b.可以用极差图进行分析，因为子组重复性测量的极差代表了这两种变差。c.如果极差图失控，应调查识别为失控的点的不一致性原因，并加以纠正。（除测量系统分辨率不足外）。7.7.3.4再现性引起的变差a.再现性误差是评价人的变异性即每位评价人造成的递增偏倚。b.通过平均每位评价人获得的所有样品值来计算各位评价人平均值，确定评价人平均值的极差。c.如果由于量具变差影响了该估计值，必须通过减去重复性部分来校正。7.7.3.5线性引起的变差a.在测量仪器的工作范围内选择一些零件可确定线性。b.确定各个被测零件的偏倚。c.线性图就是在整个工作范围内的这些偏倚与基准值之间描绘的。d.线性是由最佳拟合直线的斜率面不是拟合优度（R2）的值确定。一般地，斜率越低，量具线性越好；相反斜率越大，量具线性越差。 7.7.4测量系统误差的计算均值和极差法( R)是一种提供测量系统重复性和再现性估计的数学办法，它允许把测量系统分解成两部分，重复性和再现性，而不是交互作用，它可提供有关测量系统或量具误差的信息。7.7.4.1计算公式EV=R×K1AV= pv= RR= TV= %EV=100×（PV/TV）%AV=100×（AV/TV）%PV=100×（PV/TV）%=RR100×（RR/TV）其中：EV：重复性-设备变差AV：再现性评价人变差TV：总变差K1：重复性系数不同评价人所测量平均值的最大值与最小的差异K2：再现性系数n：被测量零件的个数r：每位评价人测量的次数PV：零件间变异RP：零件最大变异K3：零件变异系数7.7.4.2控制图分析a 将每个评价人所测零件的极差画在极差图中，同样将平均值画在均值图中。b 计算并绘出控制限c 对图表进行评价（1） 判定极差图是否受控，如果所有的极差都受控，那么评价人是一致的，可进行c（1）步骤，如果不是，可能是由于评价人技术、位置误差或仪器的一致性不好造成的，应在进行下一步之前纠正这些特殊原因，并使极差图进行受控。（2） 判定平均值是否在控制限之外，在控制限之内的面积代表测量误差（干扰），如果一半或一半以上的平均值落在极限之外，则该测量系统足以检测零件变差，也就是零件变差大于测量系统变差，当一半以下