11级(2014冬)习题.ppt

* 第一次练习： (2014.11.20) 1. 请问1个门相当于几个晶体管？ 第一次习题： (20114. 11.20) 1. 请简单介绍全定制设计和半定制设计。 2. 请简述Bipolar、MOS/CMOS等集成电路制造工艺 的各自特性。 3. 请简述集成电路生产制造的基本流程。 * 2014.11.22 去“上海集成电路科技馆”参观安排 展馆地址：上海浦东张江祖冲之路2288弄展讯中心 1号楼1层 展馆电话 或：沈小姐 地铁交通：地铁二号线广兰路站2号出口 = 展讯中心 （沿祖冲之路往东步行约5分钟，过申江路 口50米后，右转即到） 集合时间：11月22日（周六）上午9:30分 集合地点：地铁二号线广兰路站2号出口 我的电话* 第二次练习： (2014.11.27) 1. 请问集成电路硬件设计通常可分哪几个层次？ 第二次习题： (2014.11.27) 1．简述RC传输线模型。并请问为减小长连线延迟时 间应采取哪些措施？ 2. 简述仿真周期。（预习） * 第三次练习： (2014.12.04) 1. 请问有哪些信息需输入逻辑综合工具以实现逻辑 综合？ 第三次习题： (2014.12.04) 1. 逻辑综合定义是什么？简述逻辑综合的一般步骤。 2. 针对大规模多层次系统设计，一般的逻辑综合策 略有哪些？并简述之。 3. CMOS集成电路动态功耗有哪些组成部分？ 并分析各自的成因。 * 例：利用故障之间的等效及从属关系，可以减少电路中的独立故 障数和测试码。 解：⑴ 对于一个三输入与非门，有4个输入输出端口， 一般可假设8个固定逻辑值故障 ⑵ 因为， A、B、C 任一 =0 = Z=1 所以，无法区分A、B、C 的s-a-0故障和Z 的s-a-1故障。 = 这4个故障是可以等效成一个故障。（故障等效） ⑶ 设：A端有s-a-1故障， = 测试码应为： A B C Z = 1 无故障 0 1 1 Z = 0 有故障 同时，A B C = 0 1 1 也可以用于测Z上的s-a-0故障，即： A B C Z = 1 无故障 0 1 1 Z = 0 有故障 = 故障Zs-a-0从属于故障As-a-1 。（故障从属） * 第四次练习： (2014.12.11) 1. 请问集成电路的测试图形包含什么？ 第四次习题： (2014.12.11) 1. 集成电路测试的基本思想是什么？ 2. 简述固定逻辑值故障模型和其一般测试方法。 3. 针对PPT第52页电路，在3输入与非门K的一个输 入端（红色箭头所指）存在一个s-a-1故障，请用 D算法求取其相应的测试图形。 * 第四次习题： (2014.12.11) 3. 针对PPT第52页电路，在3输入与非门K的一个输 入端（红色箭头所指）存在一个s-a-1故障，请用 D算法求取其相应的测试图形。 * 2014.12.18 实验安排 实验内容：实验一（必做，并写出实验报告） 实验二（选做） 实验地点：通信与信息工程学院大楼302室 实验时间： 15:45 ~ 16:45 * 第五次练习： (2014.12.18) 1. 请用if-else语句设计一个2选一选择器。 注：sel = 0时，out = a; sel = 1时，out = b。 2. 请根据b端波形变化，画出a