扫描电化学显微镜技术近期进展.pdfVIP

第 20 悉第 2 期 Vol. 20 No. 2 分析科学学报 JOURNAL OF ANA J.YT1CAL SC1ENCE 文章编号 : 1005-6144 (2004)02-0210-05 扫描电化学显微镜技术近期进展 杨晓样，赵输， 谢青季，姚守拙 (湖南师范大学化学研究所 ，长沙 410081) 2004 年 4 月 Apr. 2004 摘 要 :本文较详细处，介绍了扫描电化学翠微镜技术的近期进展，引用参考文献 77 篇。 关键词 :扫格也化学显微4竞技术;电极 g 近期迸展 中图分类号 : 0657.1 文献标i只码 : A 1 984 年 Engst rom 把生理学上的离子电渗技术引人化学领域，研究了团体电极表而微区电化学活性， 达到 10μrn 的分辨率川。 1986 年 Engstrom 小组利用微电极探针监视j扩散层内毫秒级寿命反应中间体 NAD 等电极产物的空间分布 ，可达 2μm分辨率[2) 。同年，Bard 小组在使用扫描隧道显微镜(STM)首次 进行溶液中导体表面研究时，为了弥补 STM 不能提供电化学信息的不足 ，明确提出了扫描电化学显微镜 (SECM)的概念并予实验实现[34. 此后 ， Bard 研究小组在 SECM领域做了大量工作。与 STM 和原子力 显微镜(AFM)技术不同，SECM基于电化学原理工作ISAI ，可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学 电流.该技术驱动非常小的电极(探针)在结近样品处进行扫描，样品可以是导体、绝缘体或半导体，从而 获得对映的微区电化学和相关信息、[71 ， 目前可达到的最高分辨率约为几十纳米[) 。 随着相关理论的成熟 与完善，又发展出如电位法UJ 、电阻法[9)等新测量方法 : 与徽、纳米管结合(0) ，其研究和应用领域得到了进 一步拓展 ，并发展出许多联用技*[11 -14) 。本文主要依据美国化学会出版刊物，较详细地综述了 SECM 技 术的近期进展，并对其发展前景作了一些展望。 1 工作原理 SECM的一般工作原理是:当探针〈常为超徽图敢电极 ，UMDE)与基底问时浸入含有电活性物质 0 的溶液 中，在探针上施加电位(鸟〉使 0发生还原反应，即 O 十 ne→R. 当探针靠近导电基底时，囚其通常被作为第 二工作电极凹 ，且其电位控制在 R氧化电位，则基底产物。可扩散回探针表面使探针电流 i-r增大 1探针离样品 的距离越近，电流叶就越大。这个过程则被称为正反馈\当探针靠近绝缘基底表面时.本体溶液中 O组分向 探针的扩散受到基底的阻碍，故探针电流行减小; 且越接近样品，1T越小.这个过程常被称作负反馈。 当探针远离基底时，正负反馈均可忽略，此时微探针电流(iT) 为常规微电极稳态电流行，啊 lT.的 = 4nFc; Doa (1) 式中 F 为法拉第常数， Có 为 0 的本体浓度，Do为 0 的扩散系数，α 为探针电极半径 ， n 为电极反应转移的 电子数。 通常 SECM 工作时采用电流法[1) 。固定探针-基j夜间距对基底;进行二线扫描时，探针上电流变化将 提供基底的形貌和相应的电化学信息。 SECM 也可工作于恒电流状态[川S) , ~p恒定探针电流，检测探针 z 向位置变化以实现成像过程. 也可采用离子选择性电极(8)进行电位法实验。 2 实验仪器 市售 SECM(如 CHI900 型〉 由双恒电位仪 、高分辨的三维定位装置和操作台三部分级成(图 1) 。实验 中 ，双恒电位仪控制探钊与基底电极的电位或电流，定位装置控制探针对基底进行 X 、Y、 Z 方向扫捕。电 收稿日期 I 2002-05-27 通lR联系人: 谢青季 基金项目 s国家自然科学篓金(No..教育部全因高校优秀青年敬师教学科研奖励计划和教育部骨干敏师计划 210 第 2 期 分析科学学报 解池固定 于操作 台上.参 ~t 电极常为饱和甘乘电极或 Ag/AgCl电极[1饨，而对电极常用铅电极。探针电极的设计和 表面状态可显著影响 SECM 的分辨率和实验的重现性，用前 需预处理以获得干净表面。 2.1 探针的制备 SECM 探针为被绝缘层包围的超微圆敛电极(UMDE) , 常为资金属或碳纤维(6.时，半径在微米或亚微米级。 制作时 把清洗过的微电极丝放入除氧毛细玻璃管内，两端加热封口， 然后打磨至电极部分露出，由租到细用抛光布依次抛光至2来 针尖端为平丽。也少量涉及到半球面电极。而镀形的电极尖 瑞因探针电流不随 d 而变化，故很少使用(..吨。 再小心地把 绝缘层打磨成锥形[171 ，以在实验中获得尽可能小的探针基底 间距(d)【 1 8) ? 2. 2 探针的质量 第 20 惠 Fig. I Oiagram of SECM in