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53 基于线偏振扫描法的偏振相关损耗测试仪设计 袁 悦，杜天瑜，周 剑 （同济大学电子与信息工程学院，上海 201804） 摘要：使用线偏振扫描法来对光无源器件的偏振相关损耗进行测量，采用了基于单片机的步进电机带动偏振片旋转。重 点阐述光路设计和偏振模块设计，并且搭建实验装置验证了设计的结果，偏振相关损耗的测量误差在±0.02dB。 关键词：偏振相关损耗（PDL）；线偏振扫描法；步进电机 中图分类号：TN247 文献标识码：A 文章编号：1673-1131（2014）10-0053-03 0 引言 在光纤传输系统中，系统及器件的偏振特性是影响传输 质量的重要因素，当光信号偏振态的变化与光器件偏振依赖 损耗特性相互作用时，将导致信号失真，因此预先测量光器件 偏振依赖损耗值（PDL）对改善通信质量很有帮助。本文所设 计的偏振相关损耗综合了步进扫描和单步扫描的优点，采用 实时功率参考，保证了整个测试系统的相对功率稳定，使测量 精度达到±0.02dB。 1 偏振相关损耗测量方案 1.1 Mueller矩阵法测量偏振相关损耗 Mueller矩阵法是根据偏振光的传输特性，利用Mueller矩 阵及拉格朗日求极值法推导出来的测试方法,可用式（1）表示。 （1） 其中，T0为输出信号强度，S0 为输入信号强度， 为偏 振光椭圆率，并且 为偏振光方位角，并且， ，m为Mueller矩阵的系数。Mue