KGPP-II70022量测系统.docVIP

目录 0. 目录 大纲 1.1 范围 1.2 目的 2. 权责 3. 参考文件 4. 名词定义 5. 程序 5.1 测量系统分析时机 5.2 量具的分辨率 5.3 重复性与再现性分析 5.4 偏倚分析 5.5 稳定性分析 5.6 线性分析 5.7 计数型量具小样法分析 6. 使用窗体 7. 变更记录 0. 目录 大纲 1范围 本文件主要叙述APQP控制计划所控制或客户要求的测量系统之分析作业流程及相关标准 2目的(Purpose) 选择评定测量系统之方法, 以监视和控制变差, 籍以确保检验测量与试验时之质量 权责 产品质量先期策划小组 参考文件 KGPP-II7/0009 【产品质量先期策划(APQP)程序】 4. 名词定义 4.1 重复性: 由一个评价人, 采用同一测量系统 ,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。 4.2 再现性: 由不同的评价人, 采用相同的测量系统测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。 4.3 偏倚: 测量结果的观测平均值与基准值的差值。 4.4 稳定性: 测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的某一特性时获得的测量值总变差。 4.5 线性: 测量系统在预期的工作范围内, 偏倚值的差值。 5. 程序 5.1 测量系统分析时机 5.1.1 对于以前从未使用过的测量系统，第一次投入使用前，定义中的五项特性应全做。 5.1.2 对于日常使用中的测量系统，仅做重复性与再现性、偏倚分析，一般一年一次。 5.1.3 对于以前从未使用过的测量系统，第一次投入使用前，应进行评审，以验证该系统一直在测量正确的变量。 5.2 测量系统使用的量具分辨力应为被测特性公差的1/5~1/10。 5.3 重复性与再现性分析 5.3.1 参与分析的测量人数至少2人，零件数5~10个，测量次数至少2次。 5.3.2 分析人员安排测量次序，零件应编号，编号只有分析人员知道，测量人员不能得知。 5.3.3 试验环境应与测量系统使用时的真实环境一致，各测量人员应以平常心对待。 5.3.4 量具重复性与再现性分析的计算：见使用窗体「标准均值和极差法量具重复性和再现性X-R分析数据表」、「标准均值和极差法量具重复性和再现性报告」。 5.3.5 量具重复性与再现性%RR的可接受准则： 5.3.5.1 低于10%的误差，测量系统可接受。 5.3.5.2 在10%至30%间的误差，根据应用的重要性，量具成本维修的费用等可能是可接受的。 5.3.5.3 大于30%的误差，测量系统需要改进。 5.4 偏倚分析 5.4.1 获取一个落在产品测量范围内的零件作为样品。 5.4.2 在精测室测量样品10次，并计算这10次读数的平均值，把这个平均值作为“基准值”。 5.4.3 让一位评价人以通常的方法测量该样品10次，并计算这10次读数的平均值。 5.4.4 通过该平均值减去基准值来计算偏倚： 偏倚=观测平均值 – 基准值 过程变差=6б极差 偏倚%=偏倚/过程变差 5.4.5 判定原则 a. 重要特性其偏倚须小于等于10%； b. 一般特性其偏倚须小于30%； c. 其偏倚大于30%者，此项仪器不适合使用。 5.5 稳定性分析 5.5.1 获取一个落在产品测量范围内的零件作为样品。 5.5.2 定期（天、周）测量样品3至5次。 5.5.3 将测量值标绘在R图上。 5.5.4 计算管制界限，并对失控或不稳定作评估。 5.5.5 计算测量结果的标准偏差，并与测量过程偏差比较，确认测量系统是否适于应用。 5.6 线性分析 5.6.1 选择5个零件，这些零件要覆盖整个过程。 5.6.2 在精测室测量这5个零件，其测量值作为基准值。 5.6.3 由一位作业者将每个零件测量10次。 5.6.4 计算零件平均值及偏倚，偏倚=零件平均值 – 基准值。 5.6.5 计算： 回归直线y=a+bx X=基准值 b=斜率 a=截距 y=偏倚 b= a= 线性=斜率×过程变差 %线性=100[线性/过程变差] 5.6.6 判定原则： 5.6.6.1针对重要特性其线性度5%； 5.6.6.2 一般特性其线性度10%； 5.6.6.3 线性度10%以上者为不合格，此项仪器不适合使用。 5.7 计数型量具小样法分析 5.7.1 选取20零件，然后让两位评价人各测量两次，注意：这20个零件中，必须有一些零件会稍许低于或高于规范限值。 5.7.2 如果所有的测量结果（每个零