嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500综述.pdfVIP

.40. 《测控技术~2006 年第 25 卷第 8 期 嵌入式芯核测试标准 IEEE Std 1500 综述 杨鹏，邱静，刘冠军 (闺防科技大学机电工程与自动化学院，湖南长沙 41(073) 摘要:介绍了 IEEE 1500 标准制定的历程和背景、SoC 测试面临的重大挑战及该标准所典解决的问题、 IEEE 15ω 标准的基本结构和使用方法，最后对该标准的未来提出展望。 关键询:片上系统;芯核;IEEE 15∞标准;边界扫描标准;核测试语言标准 中图分类号:1凹06 文献标识码:A 文章编号:1∞。由8829 (2006) 08 -ω40 叩 04 Ao Overview 00 Staodard IEEE Std 1500 for Embedded Core Test YANG Peng, QIU Jing, LIU Guan才un (