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- 2017-06-12 发布于浙江
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二扩散作业
第二章
习题解答;2.1 某数字IC的埋层采用锑箱法扩散,温度为1200℃,扩散时间为2h,(1)P型硅衬底的电阻率为8?· cm,求n+埋层的厚度;(2)忽略衬底掺杂的补偿作用,求n+埋层的平均杂质浓度和方块电阻。;2 5;杂质硅中的固溶度;A1;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;当扩散时间为2h时, n+埋层的厚度为:;所求出 n+埋层的方块电阻为:;查依尔芬曲线:硅中n型余误差函数分布扩散层的平均电导率?与表面浓度Cs的关系曲线 ,;2.3 某硅集成电路采用的N型外延层的电阻率为0.4?· cm,其晶体管基区硼预淀积温度为950℃,时间为10min;再分布的温度为1180℃,时间为50min,
(1)求预淀积掺入的杂质总量、结深和方块电阻;
(2)求再分布后的表面浓度,结深和方块电阻。;所求的预沉积时掺入的杂质总量为:;A1; 所求的预沉积时的方块电阻为:;(2)再分布:;所求的再分布时的结深为:;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;2.4 硅IC采用的N型外延层的电阻率为0.4?· cm ,要求基区硼扩散的结深为2?m,方块电阻为200Ω/□;现采用两步扩散方式,试分别确定预淀积和再分布的温度和时间。;扩散层的电导率为:;由上式可知:
当T2、t2及T1确定后,则预沉积表面浓度CS1和扩散系数D1均可确定,从而扩散时间t1也可确定。;设T2=1180 ℃时,查图D~T可知: B的D2=1.5×10-12cm2/s;;设T2=1120 ℃时,查图D~T可知: B的D2=3×10-13cm2/s;;设T1=900℃时,
查图D~T可知:B的扩散系数D1=8×10-16cm2/s;
查图CSOl~T可知:B的固溶度CSOl=3.8×1020cm-3;;设T1=950℃,
查图D~T可知:B的扩散系数D1=4×10-15cm2/s;
查图CSOl~T可知:B的固溶度CSOl=4×1020cm-3;;取T1=920℃,查图D~T可知: B的D1=2×10-15cm2/s;
查图CSOl~T可知: B的固溶度CSOl=3.9×1020cm-3;;2.2 某硅晶体管基区硼预淀积温度为950℃,要求预淀积后的方块电阻为120Ω/□左右,试确定预淀积所需要的时间。;2.3 某数字IC的埋层采用锑箱法扩散,温度为1200℃,扩散时间为2h,(1)P型硅衬底的电阻率为8?· cm,求n+埋层的厚度;(2)忽略衬底掺杂的补偿作用,求n+埋层的平均杂质浓度和方块电阻。
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